[發明專利]一種多卡校準方法有效
| 申請號: | 201510961773.0 | 申請日: | 2015-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN105630716B | 公開(公告)日: | 2018-06-12 |
| 發明(設計)人: | 史浩;辛麗霞;劉金川 | 申請(專利權)人: | 北京航天測控技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F13/16 | 分類號: | G06F13/16;G06F13/40 |
| 代理公司: | 北京理工大學專利中心 11120 | 代理人: | 李微微;仇蕾安 |
| 地址: | 100041 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 校準 多卡 模塊校準 機箱 公用 動態鏈接庫 校準系統 預熱的 預熱 單塊 多塊 耗時 | ||
本發明公開了一種多卡校準方法,通過建立校準系統,實現多卡校準,避免了每次校準時分別預熱的過程,該方法可實現同一機箱多塊相同模塊公用同一DLL動態鏈接庫,完成指定模塊校準,提高校準效率,公用預熱時間,克服同一機箱單塊模塊校準耗時較長缺陷。
技術領域
本發明屬于合成儀器領域,特別涉及一種多卡校準方法。
背景技術
現代戰爭需要武器裝備具有智能化、信息化、綜合化特點,故寬帶、小體積、多功能將成為武器裝備研制的重點,為實現上述要求,大量數據校準工作則是必不可少的環節,怎樣實現大量數據的校準、怎樣節省校準時間,尤其是多個相同模塊在同一機箱內校準,是武器裝備研制過程中非常重要的一部分,預熱時間是射頻模塊校準不可缺少的環節,它的時間都比較長,多卡校準時會浪費很多預熱等待時間。
發明內容
針對上述低效率的單個模塊的校準方式,本發明提出了一種多卡校準方法,可以實現同一機箱多塊相同模塊校準,提高校準效率,公用預熱時間,克服同一機箱單塊校準換卡耗時較長的缺陷。
一種多卡校準方法,將多個被校準模塊安裝在上位機對應的卡槽內,在每個校準模塊中內設可讀寫的FLASH,并在各個被校準模塊的FLASH中寫入對應的校準數據;在所述上位機中設置校準系統,并劃分為以下功能單元:卡號識別單元、FLASH寫入單元、FLASH讀取單元、信號發生單元、信號分析單元、校準數據生成單元、校準控制單元及多卡管理單元;上位機內存中設置校準文件,在該校準文件中建立各個被校準模塊對應的數組結構,用于存儲校準數據;
在實施所述校準方法之前,對所有的被校準模塊和校準設備進行預熱,然后執行如下步驟:
步驟1、用戶指定需要校準的模塊所在槽號,將該被校準模塊與對應的校準設備連接在一起;
步驟2、卡號識別單元找到用戶指定的被校準模塊槽號,并將該槽號送給多卡管理單元;
步驟3、多卡管理單元根據從卡號識別單元接收的槽號找到該被校準模塊所對應的數組結構指針,傳送給校準初始化單元;
步驟4、校準初始化單元根據接收到的數組結構指針,調用FLASH讀取單元從對應的被校準模塊的FLASH中將校準數據讀取出來,并存儲到所述數組結構指針所指向的內存中,并送校準控制單元;
步驟5、校準控制單元按照FLASH讀取單元讀取的校準數據,調用信號發生單元驅動對應的被校準模塊產生校準數據對應的信號;
步驟6、校準控制單元調用信號分析單元采集步驟5中被校準模塊產生的信號,并提取信號的特征參量后送入校準數據生成單元;
步驟7、校準控制單元調用校準數據生成單元,將步驟4中FLASH讀取單元讀取的校準數據與步驟6中的對應的特征參量進行比對,生成校準結果,并存儲到所述數組結構指針所指向的內存中,之后送FLASH寫入單元;
步驟8、所述FLASH寫入單元把準控制單元生成的校準結果寫入被校準模塊對應的FLASH單元中;
步驟9、用戶指定下一個校準模塊槽號,重復以上步驟1-8,開始新的模塊校準,以此類推,完成多卡校準。
較佳的,所述FLASH采用AT24C512芯片。
較佳的,所述FLASH采用ASC碼形式的文件進行存儲。
較佳的,所述被校準模塊通過PXIe總線、VXI總線或者PXI總線與所述上位機相連。
本發明具有如下有益效果:
(1)本發明采用了一種基于指針的共享DLL方式的多卡校準方法,可以實現同一機箱多塊相同模塊校準,提高校準效率,公用預熱時間,克服同一機箱單塊校準換卡耗時較長的缺陷。
附圖說明
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