[發(fā)明專利]高可靠性多核處理系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510955823.4
• 申請日: 2015-12-18
• 公開（公告）號: CN105607974A
• 公開（公告）日: 2016-05-25
• 發(fā)明（設計）人: 張犁;李娟偉;殷贊;李甫;石光明
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G06F11/20
• 分類號: G06F11/20
• 代理公司: 陜西電子工業(yè)專利中心 61205
• 代理人: 韋全生;王品華

1.一種高可靠性多核處理系統(tǒng)，包括N個數(shù)據(jù)存儲單元、N個程序存儲單 元、N個處理內(nèi)核和連接網(wǎng)絡，其中：

所述數(shù)據(jù)存儲單元用于接收、存儲和輸出待處理的數(shù)據(jù)；

所述程序存儲單元用于存儲和輸出系統(tǒng)運行所需的二進制機器碼；

所述處理內(nèi)核用于讀取程序存儲單元輸出的二進制機器碼并對數(shù)據(jù)存儲單 元輸出的數(shù)據(jù)進行處理；

所述連接網(wǎng)絡用于實現(xiàn)處理內(nèi)核之間的通信和數(shù)據(jù)交換；

其特征在于：每個數(shù)據(jù)存儲單元的輸入端設置有糾錯編碼單元，其輸出端設 置有糾錯解碼單元，用于檢測并糾正錯碼；每個程序存儲單元的輸出端設置有糾 錯解碼單元，用于對程序存儲單元輸出的經(jīng)過預編碼的二進制機器碼進行檢測并 糾正錯碼；每個處理內(nèi)核中設置有內(nèi)建自測試電路，用于檢測處理內(nèi)核是否有故 障；每個數(shù)據(jù)存儲單元和程序存儲單元的輸出端均通過第一切換控制電路(1) 與n個冗余內(nèi)核相連，其中n≤N，冗余內(nèi)核用于替換待檢測處理內(nèi)核和故障內(nèi) 核；處理內(nèi)核和冗余內(nèi)核通過第二切換控制電路(2)與連接網(wǎng)絡連接。

2.根據(jù)權利要求1所述的高可靠性多核處理系統(tǒng)，其特征在于所述糾錯編 碼單元和糾錯解碼單元采用漢明碼結構。

3.根據(jù)權利要求1所述的高可靠性多核處理系統(tǒng)，其特征在于所述內(nèi)建自 測試電路包括測試向量產(chǎn)生單元、測試響應分析單元、比較單元、特征字ROM 和內(nèi)建自測試控制單元；其中，測試向量產(chǎn)生單元用于產(chǎn)生處理內(nèi)核所需的測試 向量；測試響應分析單元用于將處理內(nèi)核產(chǎn)生的測試結果壓縮為實際特征符號； 比較單元用于比較實際特征符號和理想特征符號是否相同以得出電路是否故障； 特征字ROM用于存儲理想特征符號；內(nèi)建自測試控制單元用于控制測試向量產(chǎn) 生單元、測試響應分析單元、比較單元和特征字ROM的運行。

4.根據(jù)權利要求1所述的高可靠性多核處理系統(tǒng)，其特征在于所述冗余內(nèi) 核與處理內(nèi)核結構相同，用于替換待檢測處理內(nèi)核和故障內(nèi)核。

5.根據(jù)權利要求1所述的高可靠性多核處理系統(tǒng)，其特征在于所述第一切 換控制電路(1)和第二切換控制電路(2)通過切換控制器對冗余內(nèi)核和處理內(nèi) 核進行切換。