[發明專利]一種超聲波縱波和橫波測試擊發探頭及其制造方法在審
| 申請號: | 201510955473.1 | 申請日: | 2015-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN105424814A | 公開(公告)日: | 2016-03-23 |
| 發明(設計)人: | 艾寶利;劉善軍;韓連發;王世學;常偉 | 申請(專利權)人: | 中國電建集團北京勘測設計研究院有限公司 |
| 主分類號: | G01N29/24 | 分類號: | G01N29/24 |
| 代理公司: | 北京市盛峰律師事務所 11337 | 代理人: | 于國富 |
| 地址: | 100024 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 超聲波 縱波 測試 擊發 探頭 及其 制造 方法 | ||
技術領域
本發明涉及超聲波縱波和橫波測試領域,尤其涉及一種既能用于工民建的無損檢測、水電工程的巖體測試,又能用于實驗室的試塊、試件測試的超聲波縱波和橫波測試擊發探頭。
背景技術
目前,進行縱波和橫波測試時采用的擊發探頭都為面接觸方式,由于擊發探頭接觸面與被擊振介質不能全面積接觸,這樣一方面在計算擊發和接收之間的距離時就存在一定的誤差,對隨后計算出的彈性參數的準確性產生影響,特別是實驗室對小試塊(或試件)測試成果影響更大;另一方面面接觸擊發時,由于擊發方向固定,為獲取縱波和橫波兩個參數需分別采用縱、橫波接收探頭,且擊發的縱波和橫波能量不可能同時最大化。
發明內容
本發明的目的在于提供一種既能用于工民建的無損檢測、水電工程的巖體測試,又能用于實驗室的試塊、試件測試的超聲波縱波和橫波測試擊發探頭及其制造方法,從而解決現有技術中存在的前述問題。
為了實現上述目的,本發明采用的技術方案如下:
一種超聲波縱波和橫波測試擊發探頭,包括第一質量塊、激振部分、第二質量塊、第三質量塊、固定件、外絕緣層和引線;所述第一質量塊、所述激振部分、所述第二質量塊和所述第三質量塊自上而下順序連接并由所述固定件固定;所述引線從所述激振部分引出;所述外絕緣層設置于所述激振部分的外周且覆蓋面大于所述激振部分的外表面;所述第三質量塊的下端為頂點向下的圓錐體,所述圓錐體的頂點為發射觸點。
優選的,所述激振部分主要由兩組四片壓電陶瓷環片組成,所述兩組四片壓電陶瓷環片分別是第一壓電陶瓷環片、第二壓電陶瓷環片、第三壓電陶瓷環片和第四壓電陶瓷環片;所述第一壓電陶瓷環片、所述第二壓電陶瓷環片、所述第三壓電陶瓷環片和所述第四壓電陶瓷環片自上而下依次疊加;每兩個壓電陶瓷環片之間設有電極片。
優選的,設置于所述第一壓電陶瓷環片的正極和所述第二壓電陶瓷環片的正極之間的電極片為第一電極片,設置于所述第三壓電陶瓷環片的正極和所述第四壓電陶瓷環片的正極之間的電極片為第三電極片,設置于所述第二壓電陶瓷環片的負極和所述第三壓電陶瓷環片的負極之間的電極片為第二電極片;所述第一壓電陶瓷環片的負極與所述第一質量塊連接,所述第四壓電陶瓷環片的負極與所述第二質量塊連接;所述第二電極片與負極引線連接,所述第一電極片和所述第三電極片均與正極引線連接。
優選的,所述兩組四片壓電陶瓷環片的內環直徑大于所述固定件的直徑,且所述兩組四片壓電陶瓷環片內環側與所述固定件之間形成空腔。
優選的,所述固定件為螺栓,所述第一質量塊中間設有能容納所述螺栓穿過的通孔,所述第二質量中間設有能容納所述螺栓穿過的通孔,所述第三質量塊中間設有與所述螺栓配合的螺孔。
優選的,所述外絕緣層覆蓋了整個所述激振部分和部分第一質量塊和部分第二質量塊,所述引線分別從所述外絕緣層與所述第一質量塊之間引出。
優選的,所述第一質量塊為碳鋼材質,所述第二質量塊為鋁材質,所述第三質量塊為碳鋼材質;所述第一質量塊的質量大于所述第二質量塊和第三質量塊的質量之和。
優選的,所述圓錐體的錐角為45-60度。
優選的,所述螺栓為金屬材質,所述外絕緣層為絕緣橡膠材質。
所述的超聲波縱波和橫波測試擊發探頭的制造方法,包括以下步驟:
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