[發(fā)明專利]一種用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置及方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510933813.0
• 申請日: 2015-12-15
• 公開（公告）號: CN105571828A
• 公開（公告）日: 2016-05-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 白先勇;劉四清;龔建村;崔延美;王怡然
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院國家空間科學(xué)中心
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京方安思達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11472
• 代理人: 王宇楊;劉振

1.一種用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置，其特征在于，包括：擴散 片(2)、望遠系統(tǒng)(3)、濾光系統(tǒng)(4)、探測器(5)以及圖像采集系統(tǒng)(6)；其中，

太陽(1)所發(fā)射的不均勻的平行太陽光射入所述擴散片(2)，所述擴散片(2) 將平行的太陽光擴散成不同角度的入射光，形成有固定發(fā)散角的面光源；不同角度 的入射光進入所述望遠系統(tǒng)(3)后，在所述望遠系統(tǒng)(3)中經(jīng)視場光闌選擇，在 有效視場內(nèi)形成均勻的面光源；均勻的面光源經(jīng)所述濾光系統(tǒng)(4)過濾出需要的觀 測波長，最后到達探測器(5)，并經(jīng)圖像采集系統(tǒng)(6)接收并存儲。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置，其特征 在于，所述擴散片(2)在裝置工作時旋轉(zhuǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置，其 特征在于，所述擴散片(2)為全息擴散片或工程散射片，或毛玻璃。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置，其 特征在于，所述擴散片(2)取決于所述望遠系統(tǒng)(3)的口徑。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置，其 特征在于，所述望遠系統(tǒng)(3)為折射式或反射式太陽望遠鏡。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置，其 特征在于，所述濾光系統(tǒng)(4)為lyot濾光器或干涉濾光片或法布里-珀羅濾光器。

7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置，其 特征在于，所述探測器(5)為CCD或CMOS相機。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置，其 特征在于，所述圖像采集系統(tǒng)(6)用于探測器控制、數(shù)據(jù)采集和存儲、數(shù)據(jù)頭文件 輸入；具體包括：調(diào)節(jié)探測器曝光時間、增益，控制探測器采像，存儲探測器采集 的圖像，輸入觀測時間、觀測目標(biāo)、天氣狀況在內(nèi)的參數(shù)。

9.基于權(quán)利要求1-8之一所述的用于太陽光球或色球望遠鏡平場測量的裝置所 實現(xiàn)的平場測量方法，包括數(shù)據(jù)采集階段、計算平場階段；其中，

數(shù)據(jù)采集階段包括：

步驟101)、將所述擴散片(2)放在所述望遠系統(tǒng)(3)前方，安裝時盡可能保 證其軸向和望遠系統(tǒng)3的光軸平行；

步驟102)、驅(qū)動所述擴散片(2)旋轉(zhuǎn)；

步驟103)、將所述望遠系統(tǒng)(3)對準太陽，保證太陽中心在探測器間靶面中心；

步驟104)、測量多張平場像；

步驟105)、取下所述擴散片(2)，關(guān)閉所述望遠系統(tǒng)(3)的鏡蓋，采集多張暗 場圖像；

計算平場階段包括：

步驟201)、讀取數(shù)據(jù)采集階段所得到的暗場圖像，對暗場圖像求平均，得到暗 場數(shù)據(jù)d；

步驟202)、依次讀取數(shù)據(jù)采集階段得到的各張平場像，對每張平場像減去步驟 201)得到的暗場數(shù)據(jù)d，之后求平均并做歸一化處理，得到平場數(shù)據(jù)f。