[發(fā)明專利]對琢石成像的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510925316.6 | 申請日: | 2010-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN105510340B | 公開(公告)日: | 2018-08-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 塞·施尼澤爾;亞尼瓦·本-哈蓋 | 申請(專利權(quán))人: | 賽潤色彩工藝有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/87 | 分類號: | G01N21/87 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 梁麗超;陳鵬 |
| 地址: | 以色列霍*** | 國省代碼: | 以色列;IL |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 成像 方法 | ||
1.一種對具有腰部的琢石成像的方法,所述方法包括:
(a)獲得處于所述琢石的第一方位中、包括所述腰部的所述琢石的第一部分的第一體積模型,并且在所述第一方位中從具有不同的水平角和垂直角的多個觀看點(diǎn)來捕獲所述第一部分的多個第一圖像;
(b)獲得處于所述琢石的與所述第一方位不同的第二方位中、包括所述腰部的所述琢石的第二部分的第二體積模型,并且在所述第二方位中從具有不同的水平角和垂直角的多個觀看點(diǎn)來捕獲所述琢石的所述第二部分的多個第二圖像,
所述第一體積模型和所述第二體積模型被用于使具有相似水平角和垂直角的所述第二圖像與所述第一圖像相關(guān)聯(lián);
(c)通過合并從經(jīng)相關(guān)聯(lián)的所述琢石的所述第一部分和所述第二部分的圖像采集的片段來生成所述琢石的體積圖像;以及
(d)輸出所述體積圖像以允許觀看者觀看其第一部分和第二部分從所述觀看點(diǎn)成像的所述琢石。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,在所述琢石的所述第一方位中所述琢石的臺面面向上,并且在所述琢石的所述第二方位中所述琢石的亭部面向上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其中,
-步驟(a)包括:獲得所述琢石的所述第一部分的多個第一建模圖像,并且使用所述第一建模圖像來生成所述琢石的所述第一部分的所述第一體積模型;
-步驟(b)包括:獲得所述琢石的所述第二部分的多個第二建模圖像,并且使用所述第二建模圖像來生成所述琢石的所述第二部分的所述第二體積模型;以及
使用步驟(a)和(b)中的所述第一體積模型和所述第二體積模型來計算掃描圖案;并且
使用所述掃描圖案來根據(jù)所述掃描圖案操縱所述琢石的支架和至少一個圖像傳感器中的至少一方,從而至少通過所述傳感器分別捕獲所述琢石的所述第一部分的所述第一圖像和所述第二部分的所述第二圖像。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于賽潤色彩工藝有限公司,未經(jīng)賽潤色彩工藝有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510925316.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





