[發明專利]一種基于低頻電磁的缺陷檢測裝置在審
| 申請號: | 201510916665.1 | 申請日: | 2015-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN105353030A | 公開(公告)日: | 2016-02-24 |
| 發明(設計)人: | 申屠鋒營;樓偉民;沈常宇;王友清 | 申請(專利權)人: | 中國計量學院 |
| 主分類號: | G01N27/85 | 分類號: | G01N27/85 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 310018 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 低頻 電磁 缺陷 檢測 裝置 | ||
1.一種基于低頻電磁的缺陷檢測裝置,其特征在于:由信號發生器(1)、功率放大器(2)、激勵線圈(3)、霍爾元件(4)、示波器(5)和支架(6)組成;信號發生器(1)產生一個低頻正弦信號,經過功率放大器(2)放大后,信號通過放在支架(6)上的激勵線圈(3)后會產生磁場,缺陷會使磁場發生變化,霍爾元件(4)能感應出這種磁場變化并通過示波器(5)顯示出來。
2.根據權利要求1所述的一種基于低頻電磁的缺陷檢測裝置,其特征在于:信號發生器(1)的輸出的信號頻率為1-100Hz。
3.根據權利要求1所述的一種基于低頻電磁的缺陷檢測裝置,其特征在于:激勵線圈(3)由直徑為0.3-0.7mm漆包線繞制而成。
4.根據權利要求1所述的一種基于低頻電磁的缺陷檢測裝置,其特征在于:激勵線圈(3)的磁芯選用錳鋅鐵氧體。
5.根據權利要求1所述的一種基于低頻電磁的缺陷檢測裝置,其特征在于:支架(6)上有可升降桿用來調節霍爾元件(4)的提離高度。
6.根據權利要求1所述的一種基于低頻電磁的缺陷檢測裝置,其特征在于:霍爾元件(4)采用UGN3503。
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