[發(fā)明專利]一種控制面板綜合測試臺(tái)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510915061.5
• 申請(qǐng)日: 2015-12-13
• 公開（公告）號(hào): CN105404279A
• 公開（公告）日: 2016-03-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 沈洪水
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 重慶金東電子有限公司
• 主分類號(hào): G05B23/02
• 分類號(hào): G05B23/02
• 代理公司: 重慶中流知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 50214
• 代理人: 陳立榮

一種控制面板綜合測試臺(tái)，包括：控制器、總開關(guān)、熄火開關(guān)、高溫控制開關(guān)、轉(zhuǎn)碼電路、接頭、直流檢測電壓表、勵(lì)磁調(diào)節(jié)電壓表、發(fā)熱裝置、充電電壓表、風(fēng)扇和顯示器；所述控制器分別與所述控制器、所述總開關(guān)、所述熄火開關(guān)、所述高溫控制開關(guān)、所述轉(zhuǎn)碼電路、所述接頭、所述直流檢測電壓表、所述勵(lì)磁調(diào)節(jié)電壓表、所述發(fā)熱裝置、所述充電電壓表、所述風(fēng)扇和所述顯示器連接。本發(fā)明的有益效果為具備對(duì)電子設(shè)備的解碼、編碼和勵(lì)磁功能及工作狀態(tài)的各項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合測試，能完全測試的電子設(shè)備各方面的功能，測試效率高，出廠產(chǎn)品的良品率高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試領(lǐng)域，具體涉及一種控制面板綜合測試臺(tái)。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的針對(duì)于電子設(shè)備的測試，一般只測試電子設(shè)備的工作電壓是否正常來判斷電子設(shè)備是否為合格品，不具備對(duì)電子設(shè)備的解碼、編碼和勵(lì)磁功能進(jìn)行測試，無法完全測試的電子設(shè)備為合格品，導(dǎo)致測試效率低，出廠產(chǎn)品的良品率較低。

發(fā)明內(nèi)容

為解決現(xiàn)有的針對(duì)于電子設(shè)備的測試，一般只測試電子設(shè)備的工作電壓是否正常來判斷電子設(shè)備是否為合格品，不具備對(duì)電子設(shè)備的解碼、編碼和勵(lì)磁功能進(jìn)行測試，無法完全測試的電子設(shè)備為合格品，導(dǎo)致測試效率低，出廠產(chǎn)品的良品率較低的問題，本發(fā)明提出一種控制面板綜合測試臺(tái)。

本發(fā)明提供的一種控制面板綜合測試臺(tái)，其特征在于，包括：控制器、總開關(guān)、熄火開關(guān)、高溫控制開關(guān)、轉(zhuǎn)碼電路、接頭、直流檢測電壓表、勵(lì)磁調(diào)節(jié)電壓表、發(fā)熱裝置、充電電壓表、風(fēng)扇和顯示器；所述控制器分別與所述控制器、所述總開關(guān)、所述熄火開關(guān)、所述高溫控制開關(guān)、所述轉(zhuǎn)碼電路、所述接頭、所述直流檢測電壓表、所述勵(lì)磁調(diào)節(jié)電壓表、所述發(fā)熱裝置、所述充電電壓表、所述風(fēng)扇和所述顯示器連接；其中，所述接頭和所述轉(zhuǎn)碼電路分別與待測電子裝置連接，所述轉(zhuǎn)碼電路用于對(duì)待測電子裝置發(fā)出的信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)碼處理，并顯示在所述顯示器上，當(dāng)所述顯示器上顯示為亂碼，即判定為不良品；其中，通過所述高溫控制開關(guān)控制所述發(fā)熱裝置是否發(fā)熱，以測試待測電子裝置在高溫環(huán)境下的勵(lì)磁量是否在預(yù)設(shè)勵(lì)磁量范圍，從而檢測是否為不良品；其中，通過所述熄火開關(guān)控制是否向待測電子裝置充電，以檢測待測電子裝置在充電狀態(tài)下的電壓是否超過預(yù)設(shè)電壓范圍，從而檢測是否為不良品；其中，通過開啟所述總開關(guān)，所述直流檢測電壓表檢測待測電子裝置的工作電流，以檢測待測電子裝置的工作電流是否超過預(yù)設(shè)電流范圍，從而檢測是否為不良品。

進(jìn)一步的，所述風(fēng)扇用于在所述發(fā)熱裝置關(guān)閉發(fā)熱功能時(shí)，為所述控制面板綜合測試臺(tái)快速散熱。

進(jìn)一步的，所述轉(zhuǎn)碼電路包括第一至第八電阻、第一至第十電容、串口和轉(zhuǎn)碼芯片U1；

所述第一電容的一端與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1的VREF引腳電連接，另一端接地；

所述第一電阻的一端與所述串口電連接，另一端與所述第三電容的一端電連接，所述第三電容的另一端與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1的PAO-引腳電連接；

所述第二電阻的一端與所述串口電連接，另一端與所述第四電容的一端電連接，所述第四電容的另一端與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1的PAO+引腳電連接；

所述第二電容的一端電連接于所述第三電容與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1之間的連接節(jié)點(diǎn)上，另一端與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1的PAI引腳電連接，所述第四電阻的一端電連接于所述第二電容與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1之間的連接節(jié)點(diǎn)上，另一端與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1的R0-引腳電連接；

所述第三電阻為可調(diào)電阻，一端電連接于所述第二電容與所述第三電容之間的連接節(jié)點(diǎn)上，另一端電連接于所述第二電容與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1之間的連接節(jié)點(diǎn)上；

所述第五電容一端接地，另一端分別與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1的VDD和PUI引腳電連接，+3.3V電源連接于所述第五電容與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1之間的連接節(jié)點(diǎn)上；

所述第七電容一端接地，另一端與所述轉(zhuǎn)碼芯片U1的VAG引腳電連接；