[發明專利]一種透鏡的檢驗裝置

在審

• 申請號: 201510910131.8
• 申請日: 2015-12-10
• 公開（公告）號: CN105387888A
• 公開（公告）日: 2016-03-09
• 發明（設計）人: 馬冬云
• 申請（專利權）人: 宜昌惠科科技有限公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02
• 代理公司: 宜昌市三峽專利事務所 42103
• 代理人: 吳思高

1.一種透鏡的檢驗裝置，包括半導體激光二極管（LD）、固定組件（1）、投影板（2），其特征在于，半導體激光二極管（LD）位于固定組件（1）一側，投影板（2）位于固定組件（1）另一側，透鏡（3）位于固定組件（1）上，固定組件（1）上安裝有調光組件（4）；

半導體激光二極管（LD）發出的激光束（S）,經調光組件（4）將激光束（S）調整到透鏡（3）的入光面積的大小,激光束（S）通過透鏡（3）時，透鏡（3）上的缺陷直接投送在投影板（2）上。

2.根據權利要求1所述一種透鏡的檢驗裝置，其特征在于，所述固定組件（1）由卡扣（A），彈簧（B）、及后端帶螺紋的鋁合圓筒(G)構成，卡扣（A）由PVC材質構成，其前端呈45度斜面，彈簧（B）用于卡緊透鏡（3）。

3.根據權利要求1所述一種透鏡的檢驗裝置，其特征在于，調光組件（4）由帶螺紋的鋁合金圓筒（D），亞克力透鏡（E）,及用于固定半導體激光二極管（LD）的鋁合金圓筒（F）構成；帶螺紋的鋁合金圓筒（D）與前端帶螺紋的鋁合圓筒(G)連接配合，通過螺紋調節光輸出的面積；鋁合金圓筒（F）用于固定半導體激光二極管（LD），通過螺紋調節亞克力透鏡（E）的輸出光的面積。

4.根據權利要求1所述一種透鏡的檢驗裝置，其特征在于，投影板（2）由白色亞光的塑膠構成，投影板（2）構成成像平面。

5.根據權利要求1所述一種透鏡的檢驗裝置，其特征在于，通過半導體激光二極管（LD）輸出高方向性的激光作為光源。