[發明專利]一種用于測量電極的方法及裝置

在審

• 申請號: 201510909650.2
• 申請日: 2015-12-08
• 公開（公告）號: CN105403752A
• 公開（公告）日: 2016-03-16
• 發明（設計）人: 余坤鉑;彭長麗
• 申請（專利權）人: 重慶地質儀器廠
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R19/10;G01N27/30
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

技術領域

本發明涉及電子領域，特別是涉及一種用于測量電極的方法及裝置。

背景技術

在地質勘探技術中，電極作為一種傳遞信號的裝置，其電位測量，以及兩個相鄰電極之間的電位差的測量是本領域技術人員獲取的對象。目前的測量方法只有一種單獨的測量模式，一種是只能對電極進行電位測量的電位測量模式，另一種測量模式時只能對電位差測量的電位差測量模式。在具體實施中，有時需要測量裝置工作在電位測量模式下，有時需要測量裝置工作在電位差測量模式下。如果反復跟換測量裝置，不僅增加工作量，而且過程繁瑣，效率低。

由此可見，如何實現電位測量模式與電位差測量模式的切換是本領域技術人員亟待解決的問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種用于測量電極的方法，用于實現電位測量模式與電位差測量模式的切換。此外，本發明的目的還提供一種用于測量電極的裝置。

為解決上述技術問題，本發明提供一種用于測量電極的方法，包括：

獲取測量指令，分析所述測量指令表征進入電位測量模式或電位差測量模式，并根據分析結果將所述電極的輸出端切換至與所述測量指令對應的測量電路；

當所述測量指令表征進入電位測量模式時，對獲取到的所述電極的采集信號進行分析處理以獲取所述電極對應的電位差；

當所述測量指令表征進入電位差測量模式時，對獲取到的所述電極的采集信號進行分析處理以獲取所述電極對應的電位。

優選地，所述測量指令包括高電平信號和低電平信號；

所述高電平信號表征進入電位差測量模式，所述低電平信號表征進入電位測量模式。

優選地，所述測量指令包括高電平信號和低電平信號；

所述高電平信號表征進入電位測量模式，所述低電平信號表征進入電位差測量模式。

優選地，當所述測量指令表征進入電位差測量模式時，所述對獲取到的所述電極的采集信號進行分析處理以獲取所述電極對應的電位差具體包括：

對所述電極的采集信號進行差分處理；

按預設比例對所述差分處理后的采集信號進行放大。

優選地，當所述測量指令表征進入電位測量模式時，所述對獲取到的所述電極的采集信號進行分析處理以獲取所述電極對應的電位具體包括：

按預設比例對所述采集信號進行放大。

一種用于測量電極的裝置，包括：

切換裝置，用于獲取測量指令，分析所述測量指令表征進入電位測量模式或電位差測量模式，并根據分析結果將所述電極的輸出端切換至與所述測量指令對應的測量電路；

電位測量電路，用于當所述測量指令表征進入電位測量模式時，對獲取到的所述電極的采集信號進行分析處理以獲取所述電極對應的電位差；

電位差測量電路，用于當所述測量指令表征進入電位差測量模式時，對獲取到的所述電極的采集信號進行分析處理以獲取所述電極對應的電位。

優選地，所述測量指令包括高電平信號和低電平信號；

所述高電平信號表征進入電位差測量模式，所述低電平信號表征進入電位測量模式。

優選地，所述測量指令包括高電平信號和低電平信號；

所述高電平信號表征進入電位測量模式，所述低電平信號表征進入電位差測量模式。

優選地，所述電位差測量電路具體包括：

與所述電極對應的差分電路，用于對所述電極的采集信號進行差分處理；

與所述差分電路連接的第一信號放大電路，用于按預設比例對所述差分處理后的采集信號進行放大。

優選地，所述電位測量電路具體包括：

與所述電機對應的第二信號放大電路，用于按預設比例對所述采集信號進行放大。

本發明所提供的用于測量電極的裝置，首先切換裝置獲取測量指令，然后分析測量指令所表征需要進入電位測量模式還是進入電位差測量模式，并根據分析結果將相應的電極的輸出端切換至與測量指令對應的電位測量電路或電位差測量電路。由此可見，本發明能夠根據實際需要設定不同的測量指令，以實現在電位測量模式或電位差測量模式之間切換。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例，下面將對實施例中所需要使用的附圖做簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明提供的一種用于測量電極的方法的流程圖；

圖2為本發明提供的一種用于測量電極的裝置的結構圖；