[發明專利]可提高激勵信號信噪比的測試系統

有效

• 申請號: 201510908298.0
• 申請日: 2015-12-09
• 公開（公告）號: CN105548752B
• 公開（公告）日: 2018-06-26
• 發明（設計）人: 王華;余琨;祁建華;湯雪飛;牛勇;葉建明
• 申請（專利權）人: 上海華嶺集成電路技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 智云

本發明提出了一種提高測試激勵信號信噪比的方法，在信號發生器與待測器件間增加無源分壓電路，通過分壓比調整信號發生器輸出信號幅度，使信號經過分壓電路后還原到實際待測器件需要的信號幅度，從而實現激勵信號幅值不變，通過分壓電路后信號攜帶的噪聲發生了相應倍數的衰減，分壓電路設計靠近待測器件端，從而實現降低整個信號傳輸通路上噪聲的作用，提高激勵信號信噪比，具有簡單、靈活方便等優點。

技術領域

本發明涉及器件測試領域，尤其涉及一種可提高激勵信號信噪比的測試系統。

背景技術

信號發生器(AWG)是一種能提供各種頻率、波形和輸出電平電信號的設備。在測量各種電信系統或電信設備的振幅特性、頻率特性、傳輸特性及其它電參數時，以及測量元器件的特性與參數時，用作測試的信號源或激勵源。

目前在對待測器件(DUT)進行測試時，通常會由信號發生器(AWG)發出激勵信號，對待測器件進行測試。圖1為具有典型任意波形發生器測試系統的結構示意圖，其中，通常情況下會在信號發生器中與待測器件之間增加低通濾波器(LPF)或者帶通濾波器(BPF)，圖未示出，通過低通濾波器的作用濾除高頻信號或者除需要信號以外的頻率分量，從而提高激勵信號總諧波失真(THD)和無雜散動態范圍(SFDR)指標，但是這些無法降低信號噪聲，而且不管是低通濾波器和是帶通濾波器的引入均會增加傳輸路徑上的信號噪聲。

由于測試系統、測試線路、外圍器件會帶來噪聲干擾等影響，從而影響AWG輸出信號質量，從而導致待測器件測量的不準確。如上文所述，現有技術中可以通過增加低通濾波器或帶通濾波器提高THD和SFDR，但是無法提高信噪比(SNR)。信噪比(SNR)是指一個電子設備或者電子系統中信號與噪聲的比例，單位為分貝(dB)，SNR計算為信號采樣奈奎斯特頻率內信號功率與全部噪聲功率比值的對數。SNR、THD和SFDR是表征AWG輸出信號質量的主要指標。因此，為了提高AWG輸出信號質量，需要一種提高信噪比的方法。

發明內容

本發明的目的在于提供一種可提高激勵信號信噪比的測試系統，能夠在不改變輸入激勵信號幅度和頻率的情況下，降低激勵信號噪聲，提高激勵信號信噪比，從而滿足待測器件規格要求。

為了實現上述目的，本發明提出了一種可提高激勵信號信噪比的測試系統，用于對待測器件進行測試，包括信號發生器及分壓電路，所述分壓電路連接在所述信號發生器和待測器件之間。

進一步的，在所述的可提高激勵信號信噪比的測試系統中，所述分壓電路采用電阻分壓的無源線性分壓電路。

進一步的，在所述的可提高激勵信號信噪比的測試系統中，所述分壓電路包括第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3和第四電阻R4，其中，所述第一電阻R1和第二電阻R2串聯形成第一支路，所述第一電阻R1和第三電阻R3串聯形成第二支路，所述第四電阻R4連接在第一支路和第二支路之間。

進一步的，在所述的可提高激勵信號信噪比的測試系統中，所述第一電阻R1為0歐姆。

進一步的，在所述的可提高激勵信號信噪比的測試系統中，所述分壓電路的分壓比G為：

其中，R2、R3和R4分別為第二電阻R2、第三電阻R3和第四電阻R4。

進一步的，在所述的可提高激勵信號信噪比的測試系統中，所述分壓比G的范圍為0～1。

進一步的，在所述的可提高激勵信號信噪比的測試系統中，還包括濾波電路，所述濾波電路連接在信號發生器和分壓電路之間。

進一步的，在所述的可提高激勵信號信噪比的測試系統中，所述濾波電路包括低通濾波或者帶通濾波電路。