[發(fā)明專利]實現(xiàn)微波測試儀器近雜散自動校準(zhǔn)的系統(tǒng)及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510894906.7 | 申請日： | 2015-12-07 |
| 公開（公告）號： | CN105548932B | 公開（公告）日： | 2018-06-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 解建紅;蔣佳佳 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海創(chuàng)遠儀器技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R35/00 | 分類號： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王潔;鄭暄 |
| 地址： | 200233 上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 雜散 微波測試儀器 待測設(shè)備 自動校準(zhǔn) 頻率控制字 基帶板 測試參數(shù)配置 測試過程 大小關(guān)系 發(fā)送控制 控制變量 控制終端 人工測試 校準(zhǔn)過程 自動測試 自動運行 頻率點 校準(zhǔn) 預(yù)設(shè) 電源 判定 自動化 測量 供電 檢測 應(yīng)用 | ||
1.一種實現(xiàn)微波測試儀器近雜散自動校準(zhǔn)的系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng)包括：
電源，用以為待測設(shè)備供電；
基帶板，與所述的待測設(shè)備相連接；
控制終端，用以根據(jù)預(yù)先設(shè)定的程序通過基帶板向所述的待測設(shè)備發(fā)送控制變量對應(yīng)的頻率控制字信號，并根據(jù)相噪儀測量得到的雜散點的大小與系統(tǒng)預(yù)設(shè)雜散判定值的大小關(guān)系進行雜散校準(zhǔn)；
相噪儀，用以在不同的控制變量對應(yīng)的頻率控制字信號下檢測雜散值并得到最大的雜散點對應(yīng)的頻率點、雜散點的位置及雜散點的大小；
所述的系統(tǒng)通過以下步驟實現(xiàn)微波測試儀器近雜散自動校準(zhǔn)：
(1)設(shè)定系統(tǒng)預(yù)設(shè)雜散判定值；
(2)所述的控制終端配置測試頻率點；
(3)所述的控制終端按順序選擇一個控制變量并將控制變量對應(yīng)的頻率控制字信號發(fā)送至所述的待測設(shè)備；
(4)所述的相噪儀在所述的控制變量對應(yīng)的頻率控制字信號下進行相位噪聲測試；
(5)所述的相噪儀得到相位噪聲曲線上最大的雜散點的大??；
(6)所述的控制終端判斷所述的雜散點的大小和系統(tǒng)預(yù)設(shè)雜散判定值的關(guān)系，如果所述的雜散點的大小大于系統(tǒng)預(yù)設(shè)雜散判定值，則繼續(xù)步驟(7)，否則輸出校準(zhǔn)已解決；
(7)所述的控制終端重新選取下一個控制變量并將控制變量對應(yīng)的頻率控制字信號發(fā)送至所述的待測設(shè)備，然后繼續(xù)步驟(3)。
2.一種基于權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)實現(xiàn)微波測試儀器近雜散自動校準(zhǔn)的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟：
(1)設(shè)定系統(tǒng)預(yù)設(shè)雜散判定值；
(2)所述的控制終端配置測試頻率點；
(3)所述的控制終端按順序選擇一個控制變量并將控制變量對應(yīng)的頻率控制字信號發(fā)送至所述的待測設(shè)備；
(4)所述的相噪儀在所述的控制變量對應(yīng)的頻率控制字信號下進行相位噪聲測試；
(5)所述的相噪儀得到相位噪聲曲線上最大的雜散點的大小；
(6)所述的控制終端判斷所述的雜散點的大小和系統(tǒng)預(yù)設(shè)雜散判定值的關(guān)系，如果所述的雜散點的大小大于系統(tǒng)預(yù)設(shè)雜散判定值，則繼續(xù)步驟(7)，否則輸出校準(zhǔn)已解決；
(7)所述的控制終端重新選取下一個控制變量并將控制變量對應(yīng)的頻率控制字信號發(fā)送至所述的待測設(shè)備，然后繼續(xù)步驟(3)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的實現(xiàn)微波測試儀器近雜散自動校準(zhǔn)的方法，其特征在于，所述的步驟(3)和(4)之間，還包括以下步驟：
(3-1)所述的控制終端判斷所述的相噪儀是否將信號鎖定，如果是，則繼續(xù)步驟(4)，否則繼續(xù)步驟(3-2)；
(3-2)所述的控制終端記錄校準(zhǔn)未解決并重新選擇下一個頻點，然后繼續(xù)步驟(3-1)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的實現(xiàn)微波測試儀器近雜散自動校準(zhǔn)的方法，其特征在于，所述的步驟(5)，具體為：
所述的相噪儀返回此次測試的頻率點fi，雜散點的位置Δf及雜散點的大小ΔP。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的實現(xiàn)微波測試儀器近雜散自動校準(zhǔn)的方法，其特征在于，所述的步驟(6)，包括以下步驟：
(6-1)所述的控制終端判斷所述的雜散點的大小和系統(tǒng)預(yù)設(shè)雜散判定值的關(guān)系，如果所述的雜散點的大小大于系統(tǒng)預(yù)設(shè)雜散判定值，則繼續(xù)步驟(7)，否則繼續(xù)步驟(6-2)；
(6-2)所述的控制終端判斷此次測試是當(dāng)前控制變量的第幾次測試，如果未達到預(yù)設(shè)同一變量重復(fù)測試次數(shù)，則測試次數(shù)加一并繼續(xù)步驟(4)，如果已達到預(yù)設(shè)同一變量重復(fù)測試次數(shù)，則測試次數(shù)清零，并繼續(xù)步驟(6-3)；
(6-3)所述的控制終端輸出已解決并記錄此次測試的頻率點fi，雜散點的位置Δf及雜散點的大小ΔP。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海創(chuàng)遠儀器技術(shù)股份有限公司，未經(jīng)上海創(chuàng)遠儀器技術(shù)股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510894906.7/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 可配置的自動校準(zhǔn)系統(tǒng)
- 一種功率源的自動校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法
- 一種能自動校準(zhǔn)高精度果糖定量機的控制電路及其校準(zhǔn)方法
- 一種功率源的自動校準(zhǔn)系統(tǒng)
- 一種攝像頭智能控制校準(zhǔn)設(shè)備
- 基于數(shù)據(jù)采集器自校準(zhǔn)的智能校準(zhǔn)系統(tǒng)
- 一種充放電設(shè)備自動校準(zhǔn)方法
- 血壓計校準(zhǔn)方法、系統(tǒng)、電子血壓計和校準(zhǔn)服務(wù)器
- 一種紅外測溫設(shè)備的自動校準(zhǔn)方法及裝置
- 激光儀器曲線自動校準(zhǔn)系統(tǒng)
