[發明專利]光電瞄準系統下視跟蹤測試方法及實施該方法的測試裝置

在審

• 申請號: 201510880327.7
• 申請日: 2015-12-05
• 公開（公告）號: CN105547049A
• 公開（公告）日: 2016-05-04
• 發明（設計）人: 孔衛國;竇光繼;羅永勝;黃慶;馮長遠;王合龍
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司洛陽電光設備研究所
• 主分類號: F41G3/32
• 分類號: F41G3/32;F41G3/22
• 代理公司: 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119
• 代理人: 陳曉輝

技術領域

本發明涉及一種光電瞄準系統下視跟蹤測試方法及實施該方法的測試裝置。

背景技術

目前，在運輸機、轟炸機、無人機、直升機等作戰飛機投放激光制導武器后，機載光 電瞄準系統需要保持對目標的跟蹤，為激光制導武器提供照射引導。由于激光制導武器大 多無動力，武器投放后飛行速度低于載機，因此往往出現光電瞄準系統對目標進行下視跟 蹤的需求。這樣在對光電瞄準系統進行跟蹤性能測試時，就必須對光電瞄準系統的下視跟 蹤性能進行測試。現有的光電瞄準系統的下視跟蹤性能測試過程為：光電瞄準系統被固定 在二維轉臺，平行光管被安裝在二維轉臺的一側，從而通過二維轉臺帶動光電瞄準系統進 行俯仰和方位調整，以平行光管的光標模擬光電瞄準系統側下方的目標。但需要以平行光 管的光標模擬光電瞄準系統的正下方目標時，光電瞄準系統的接收端會垂直朝下，此時光 電瞄準系統的視場會受到二維轉臺的臺柱干涉，致使光電瞄準系統無法觀測到平行光管的 光標，也就使得現有的測試裝置只能實現有限俯仰范圍內的跟蹤性能測試，當俯仰角超過 一定限值時，將由于二維轉臺的柱體對系統瞄準線的遮擋而無法保持對目標的跟蹤，出現 測試盲區。

發明內容

本發明的目的是提供一種增大測試范圍的光電瞄準系統下視跟蹤測試方法，同時 本發明還提供了一種專用于實施該光電瞄準系統下視跟蹤測試方法的測試裝置。

為了實現以上目的，本發明中光電瞄準系統下視跟蹤測試方法的技術方案如下：

光電瞄準系統下視跟蹤測試方法，包括如下步驟：

步驟一，將平行光管安裝在二維轉臺上，將待測試光電瞄準系統置于平行光管的上方， 并通過調節平行光管和/或光電瞄準系統，使得平行光管處于光電瞄準系統的正下方或側 下方；

步驟二，光電瞄準系統保持不動，通過二維轉臺帶動平行光管運動。

本發明中測試裝置的技術方案如下：

測試裝置，包括二維轉臺，二維轉臺上裝配有用于作為目標源的平行光管，并在平行光 管的上方設有用于固定光電瞄準系統位置的安裝部件，安裝部件裝配在機架上。

二維轉臺包括轉臺基座及其上繞豎向延伸的軸線轉動裝配的方位框，方位框和平 行光管之間裝配有用于帶動平行光管在方位框上沿垂直方位框轉動軸線的方向移動的橫 移機構。

橫移機構包括固定在方位框上的橫移導軌以及與平行光管固連的導向支座，導向 支座與橫移導軌沿軌道長度方向導向移動配合。

橫移導軌為繞水平延伸的軸線彎曲的圓弧軌道。

圓弧軌道為兩端齊平、且中間低的半圓形。

平行光管偏置于方位框的旋轉軸線的一側。

安裝部件和機架之間裝配有沿水平方向移動或繞豎向延伸的軸線擺動的調整機 構。

調整機構包括固定基座及其上沿縱向導向移動裝配的縱向滑座，縱向滑座上裝配 有沿橫向導向移動裝配的橫向滑座，所述安裝部件處于橫向滑座上。

橫向滑座和安裝部件之間裝配有用于帶動安裝部件上下移動的升降機構。

本發明以二維轉臺帶動平行光管運動的方式實現平行光管與光電瞄準系統的相 對運動，從而模擬廣電瞄準系統相對于目標源的移動，在此過程中，平行光管所發射出的平 行光源始終朝上，以致平行光管上方的光電瞄準系統不會出現視場盲區，尤其在需要測試 光電瞄準系統對正下方目標的下視性能時，可將光電瞄準系統置于平行光管的正上方，此 時平行光管和光電瞄準系統之間不會受到二維轉臺的干涉，從而增大了光電瞄準系統下視 跟蹤性能測試的范圍，保證了測試的充分程度。

附圖說明

圖1是本發明的測試裝置的實施例的立體結構示意圖；

圖2是圖1的主視圖；

圖3是圖2的左視圖；

圖4是圖2的仰視圖；

圖5是本發明的測試裝置的實施例在使用時航向軌跡一的示意圖；

圖6是本發明的測試裝置的實施例在使用時航向軌跡二的示意圖；

圖7是本發明的測試裝置的實施例在使用時航向軌跡三的示意圖；

圖8是本發明的測試裝置的實施例在使用時航向軌跡四的示意圖。

具體實施方式