[發(fā)明專利]輸電線路防外破檢測(cè)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510867399.8 | 申請(qǐng)日: | 2015-12-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106842349B | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙玉芳;黃文娟;李紅云;吳世新;宣東海;馬琳;李文鵬;謝巖;何頻;蔡文彪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京國網(wǎng)富達(dá)科技發(fā)展有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01V8/10 | 分類號(hào): | G01V8/10;G08B13/196 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 王天堯 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 輸電 線路 防外破 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
1.一種輸電線路防外破檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
在與輸電線路相對(duì)固定的位置上,采集輸電線路圖像;
對(duì)所述輸電線路圖像進(jìn)行預(yù)處理,對(duì)預(yù)處理后的圖像進(jìn)行二值化處理,分割出外物入侵目標(biāo);
在二值化后的圖像中以所述外物入侵目標(biāo)為中心的預(yù)設(shè)范圍內(nèi),采用粒子群的速度和位移模型建立各粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程,根據(jù)各粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程檢測(cè)所述外物入侵目標(biāo)的位置;
在二值化后的圖像中以所述外物入侵目標(biāo)為中心的預(yù)設(shè)范圍內(nèi),采用粒子群的速度和位移模型建立各粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程為:
其中,v為粒子的速度,ω為慣性權(quán)重,η為加速常數(shù),rand()為取0-1之間的隨機(jī)數(shù),pdg為全局最優(yōu)解,s為外物入侵目標(biāo)的位置,t為當(dāng)前時(shí)刻,t-1為前一時(shí)刻,i為任意一個(gè)粒子;
根據(jù)各粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程檢測(cè)所述外物入侵目標(biāo)的位置,包括:
求前一時(shí)刻各粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程的目標(biāo)解,將所有粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程的目標(biāo)解中的最優(yōu)解確定為所述外物入侵目標(biāo)的當(dāng)前位置。
2.如權(quán)利要求1所述的輸電線路防外破檢測(cè)方法,其特征在于,對(duì)所述輸電線路圖像進(jìn)行預(yù)處理,包括:
采用中值濾波方法對(duì)所述輸電線路圖像去噪聲;
對(duì)去噪聲后的輸電線路圖像,采用線性二次微分子算法進(jìn)行邊緣檢測(cè)。
3.如權(quán)利要求1所述的輸電線路防外破檢測(cè)方法,其特征在于,對(duì)預(yù)處理后的圖像進(jìn)行二值化處理,分割出外物入侵目標(biāo),包括:
對(duì)預(yù)處理后的圖像的前景圖像和背景圖像進(jìn)行差運(yùn)算得到差分圖像;
對(duì)差分圖像進(jìn)行二值化處理,在二值化圖像中分割出所述外物入侵目標(biāo)。
4.一種輸電線路防外破檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
圖像采集模塊,安裝在塔上,用于在與輸電線路相對(duì)固定的位置上,采集輸電線路圖像,將所述輸電線路圖像傳送給圖像處理模塊;
所述圖像處理模塊,用于對(duì)所述輸電線路圖像進(jìn)行預(yù)處理,對(duì)預(yù)處理后的圖像進(jìn)行二值化處理,分割出外物入侵目標(biāo);
目標(biāo)檢測(cè)模塊,用于在二值化后的圖像中以所述外物入侵目標(biāo)為中心的預(yù)設(shè)范圍內(nèi),采用粒子群的速度和位移模型建立各粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程,根據(jù)各粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程檢測(cè)所述外物入侵目標(biāo)的位置;
所述目標(biāo)檢測(cè)模塊在二值化后的圖像中以所述外物入侵目標(biāo)為中心的預(yù)設(shè)范圍內(nèi),采用粒子群的速度和位移模型建立各粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程為:
其中,v為粒子的速度,ω為慣性權(quán)重,η為加速常數(shù),rand()為取0-1之間的隨機(jī)數(shù),pdg為全局最優(yōu)解,s為外物入侵目標(biāo)的位置,t為當(dāng)前時(shí)刻,t-1為前一時(shí)刻,i為任意一個(gè)粒子;
所述目標(biāo)檢測(cè)模塊,具體用于求前一時(shí)刻各粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程的目標(biāo)解,將所有粒子的狀態(tài)轉(zhuǎn)移方程的目標(biāo)解中的最優(yōu)解確定為所述外物入侵目標(biāo)的當(dāng)前位置。
5.如權(quán)利要求4所述的輸電線路防外破檢測(cè)裝置,其特征在于,所述圖像處理模塊,包括:
濾波單元,用于采用中值濾波方法對(duì)所述輸電線路圖像去噪聲;
邊緣檢測(cè)單元,用于對(duì)去噪聲后的輸電線路圖像,采用線性二次微分子算法進(jìn)行邊緣檢測(cè)。
6.如權(quán)利要求4所述的輸電線路防外破檢測(cè)裝置,其特征在于,所述圖像處理模塊,還包括:
差分單元,用于對(duì)預(yù)處理后的圖像的前景圖像和背景圖像進(jìn)行差運(yùn)算得到差分圖像;
二值化處理單元,用于對(duì)差分圖像進(jìn)行二值化處理,在二值化圖像中分割出所述外物入侵目標(biāo)。
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