[發明專利]一種GF乘法器、校驗位生成裝置、主控芯片及固態硬盤

在審

• 申請號: 201510857474.2
• 申請日: 2015-11-30
• 公開（公告）號: CN105487938A
• 公開（公告）日: 2016-04-13
• 發明（設計）人: 廖紅輝
• 申請（專利權）人: 浪潮（北京）電子信息產業有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

1.一種適用于RAID6的GF乘法器，其特征在于，包括N組GF乘法單 元，N為正整數；每一組GF乘法單元均包括第一輸入端和第二輸入端，其中， 第一輸入端用于獲取外界輸入的常量數據，第二輸入端用于獲取外界輸入的 磁盤數據；并且，每一組GF乘法單元均包括8個GF乘法單元，每一個GF 乘法單元均通過與門電路和異或門電路進行搭建；

每一組GF乘法單元用于將GF乘法運算等效為邏輯與運算和異或運算， 通過邏輯與運算以及異或運算，對該組GF乘法單元的第一輸入端獲取到的常 量數據和第二輸入端獲取到的磁盤數據進行處理，以等效地完成針對8個比 特位的GF乘法運算。

2.根據權利要求1所述的適用于RAID6的GF乘法器，其特征在于，所 述GF乘法器包括16組GF乘法單元，通過所述16組GF乘法單元，等效地 完成針對128個比特位的GF乘法運算。

3.一種適用于RAID6的校驗位生成裝置，其特征在于，包括如權利要 求1所述的GF乘法器；還包括第一異或運算器、第二異或運算器和緩沖器； 所述緩沖器包括Q緩沖區和P緩沖區；其中，

所述GF乘法器的輸入側包括第一端口和第二端口；所述第一端口與每一 組GF乘法單元的第一輸入端連接，用于獲取外界輸入的常量數據；所述第二 端口與每一組GF乘法單元的第二輸入端連接，用于獲取外界輸入的磁盤數 據；

所述第一異或運算器的第一輸入端與所述GF乘法器的輸出側連接；所述 第一異或運算器的輸出端與所述Q緩沖區連接，用于將輸出的數據存儲至所 述Q緩沖區；所述第一異或運算器的第二輸入端與所述Q緩沖區連接，用于 獲取所述Q緩沖區中最近一次存儲的數據；

所述第二異或運算器的第一輸入端與所述GF乘法器的第二端口進行數 據連接；所述第二異或運算器的輸出端與所述P緩沖區連接，用于將輸出的 數據存儲至所述P緩沖區；所述第二異或運算器的第二輸入端與所述P緩沖 區連接，用于獲取所述P緩沖區中最近一次存儲的數據；

所述緩沖器，用于當RAID6控制器檢測到當前磁盤ID操作完成時，將 所述Q緩沖區中存儲的Q校驗位確定為最終的Q校驗結果，并將所述Q校驗 結果發送至預設的磁盤Q區，以及將所述P緩沖區中存儲的P校驗位確定為 最終的P校驗結果，并將所述P校驗結果發送至預設的磁盤P區。

4.根據權利要求3所述的適用于RAID6的校驗位生成裝置，其特征在 于，還包括：

P區監測模塊，用于對所述磁盤P區進行實時監測，以確定所述磁盤P 區中存儲的P校驗位是否遭到損壞。

5.根據權利要求4所述的適用于RAID6的校驗位生成裝置，其特征在 于，還包括：

第一觸發模塊，用于當所述P區監測模塊監測到所述磁盤P區中存儲的P 校驗位遭到損壞時，生成第一觸發控制信號，以控制所述校驗位生成裝置重 新生成相應的P校驗位。

6.根據權利要求3至5任一項所述的適用于RAID6的校驗位生成裝置， 其特征在于，還包括：

Q區監測模塊，用于對所述磁盤Q區進行實時監測，以確定所述磁盤Q 區中存儲的Q校驗位是否遭到損壞。

7.根據權利要求6所述的適用于RAID6的校驗位生成裝置，其特征在 于，還包括：

第二觸發模塊，用于當所述Q區監測模塊監測到所述磁盤Q區中存儲的 Q校驗位遭到損壞時，生成第二觸發控制信號，以控制所述校驗位生成裝置 重新生成相應的Q校驗位。

8.一種適用于RAID6的主控芯片，其特征在于，包括如權利要求3至7 任一項所述的校驗位生成裝置。

9.一種固態硬盤，其特征在于，包括如權利要求8所述的主控芯片。