[發(fā)明專利]一種基于數(shù)字全息的高數(shù)值孔徑半球面形檢測(cè)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510853973.4 | 申請(qǐng)日: | 2015-11-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105300312A | 公開(公告)日: | 2016-02-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘鋒;肖文;呂曉云;董斌;侯雪琴;車?yán)倨?/a> | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01B11/24 | 分類號(hào): | G01B11/24;G01B9/023 |
| 代理公司: | 北京永創(chuàng)新實(shí)專利事務(wù)所 11121 | 代理人: | 趙文穎 |
| 地址: | 100191*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 數(shù)字 全息 數(shù)值孔徑 半球 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半球面形的三維形貌檢測(cè)系統(tǒng),更特別地說,是指一種針對(duì)大相對(duì)口徑、大曲率的半球面形的數(shù)字全息高數(shù)值孔徑三維形貌檢測(cè)系統(tǒng),屬于光學(xué)精密檢測(cè)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
目前,半球面形的三維形貌檢測(cè)技術(shù)主要有接觸式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x、光學(xué)干涉檢測(cè)技術(shù)等,光學(xué)干涉檢測(cè)技術(shù)中干涉儀的應(yīng)用最為廣泛。數(shù)字全息技術(shù)利用CCD、CMOS等光電成像探測(cè)器件作為記錄介質(zhì)來記錄全息圖,以數(shù)字形式存儲(chǔ),并利用計(jì)算機(jī)以數(shù)字方法模擬再現(xiàn)光學(xué)衍射過程,重構(gòu)三維光場(chǎng),同時(shí)獲得光場(chǎng)的振幅和相位信息。其優(yōu)點(diǎn)包括:(1)以非接觸方式檢測(cè),對(duì)被測(cè)物體表面完全無損;(2)記錄與再現(xiàn)過程都以數(shù)字化形式完成,便于對(duì)球面面形的三維信息進(jìn)行定量分析及數(shù)字處理;(3)在數(shù)字重構(gòu)過程中,可方便地運(yùn)用數(shù)字圖像處理技術(shù)改善數(shù)據(jù)質(zhì)量。在專利CN201410152708提出的一種基于子孔徑相位拼接的數(shù)字全息球面面型檢測(cè)裝置中,雖然采用數(shù)字全息技術(shù),但是在其中采用球面標(biāo)準(zhǔn)鏡為被測(cè)球面生成球面照明光,該球面鏡不能對(duì)光束進(jìn)行擴(kuò)束和高度會(huì)聚,輸出光束的孔徑角較小,對(duì)大相對(duì)口徑、大曲率球面測(cè)量來說需要多次移動(dòng)被測(cè)物體相對(duì)于光路的位置,測(cè)量過程較為復(fù)雜且會(huì)引入較大的測(cè)量誤差;而且不能對(duì)平行度進(jìn)行調(diào)整,因此系統(tǒng)像差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響較大;采用532nm激光器提供照明,該波長(zhǎng)對(duì)球面的表面微形貌來說測(cè)量范圍較小,因此分辨率降低;五維調(diào)整安裝平臺(tái)的單向移動(dòng)范圍較??;系統(tǒng)結(jié)構(gòu)不夠緊湊,裝配比較復(fù)雜。
為了將數(shù)字全息技術(shù)應(yīng)用于大相對(duì)口徑、大曲率的半球面形的三維形貌檢測(cè),并獲得高精度的測(cè)量結(jié)果,需要解決一些技術(shù)問題:(1)對(duì)于大相對(duì)口徑、大曲率的三維半球表面來說,由于光束方向與光束口徑的限制,單次測(cè)量無法完成對(duì)大相對(duì)口徑、大曲率的半球表面面形的檢測(cè);(2)在檢測(cè)過程中,為保證測(cè)量的準(zhǔn)確性,出射光線會(huì)聚的焦點(diǎn)需要與半球工裝的球心完全重合;(3)測(cè)量過程中,被測(cè)球面相對(duì)于光軸的準(zhǔn)確定位;(4)檢測(cè)系統(tǒng)的合理性設(shè)計(jì),穩(wěn)定性高,便于操作,測(cè)量精度高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決上述問題,設(shè)計(jì)了一種基于數(shù)字全息的高數(shù)值孔徑半球面形檢測(cè)系統(tǒng)。本系統(tǒng)采用數(shù)字全息技術(shù),設(shè)計(jì)了數(shù)字全息檢測(cè)光路,并且設(shè)計(jì)了一個(gè)與之匹配的高數(shù)值孔徑標(biāo)準(zhǔn)會(huì)聚球面波產(chǎn)生裝置,能夠接收數(shù)字全息檢測(cè)光路出射的光束并對(duì)其進(jìn)行調(diào)整,輸出為高數(shù)值孔徑的標(biāo)準(zhǔn)會(huì)聚球面波,為被測(cè)半球工裝提供照明,這樣使得輸出的會(huì)聚光束有效匹配被測(cè)半球面大相對(duì)口徑、大曲率的特性,提高測(cè)量精度。而且,測(cè)量中結(jié)合子孔徑拼接檢測(cè)技術(shù),針對(duì)子孔徑獲取過程中被測(cè)半球工裝的移動(dòng)設(shè)計(jì)了一個(gè)組合機(jī)械定位臺(tái),結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,拆裝組合方便,定位精度高,可用于大相對(duì)口徑、大曲率的半球形物體的表面三維形貌的高精度檢測(cè)。
本發(fā)明的一種基于數(shù)字全息的高數(shù)值孔徑半球面形檢測(cè)系統(tǒng),包括全息檢測(cè)光路、高數(shù)值孔徑標(biāo)準(zhǔn)會(huì)聚球面波產(chǎn)生裝置、半球工裝、4維組合機(jī)械定位臺(tái),半球工裝即被測(cè)對(duì)象;
全息檢測(cè)光路包括激光光源、A半波片、偏振分光棱鏡、B半波片、第一光束準(zhǔn)直單元、第二光束準(zhǔn)直單元、光束偏轉(zhuǎn)單元和CCD相機(jī);
高數(shù)值孔徑標(biāo)準(zhǔn)會(huì)聚球面波產(chǎn)生裝置包括5倍擴(kuò)束鏡和小F數(shù)激光鏡頭;
4維組合機(jī)械定位臺(tái)包括水平方向二維平移臺(tái)、垂直方向一維平移臺(tái)和一維旋轉(zhuǎn)臺(tái);
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