[發明專利]用于測量電線中的差動電流的電子設備

有效

• 申請號: 201510847801.6
• 申請日: 2015-11-27
• 公開（公告）號: CN105652065B
• 公開（公告）日: 2019-11-15
• 發明（設計）人: L·蓋茨;F·瓦拉里諾;P·安東內洛
• 申請（專利權）人: ABB股份公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 11038 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 郭思宇<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種用于測量在具有多個導體的電線(100)中的差動電流ID的電子設備(1)，所述電子設備包括：

-感測電路(2)，包括：

-電流互感器(21)，具有被操作耦接到所述電線的導體的磁芯(211)、次級繞組(212)和勵磁繞組(213)，勵磁電流IE沿著所述勵磁繞組(213)流通以使所述磁芯(211)極化；

-輸出電路部(22)，被電連接到所述次級繞組(212)并被配置以提供指示所述差動電流的第一信號V1；

其特征在于包括：

-第一信號處理裝置(3)，被配置以處理所述第一信號V1并提供指示所述差動電流ID的第二信號VD；

-第二信號處理裝置(4)，被配置以處理所述第二信號VD并提供指示所述差動電流ID的非時變分量的絕對值的第一測量信號IDCM；

-第三信號處理裝置(5)，被配置以處理所述第一信號V1并提供第三和第四信號S1、S2，所述第三和第四信號S1、S2指示所述磁芯(211)是在所述磁芯的磁滯回線的正飽和區還是負飽和區操作；

-第四信號處理裝置(6)，被配置以處理所述第三和第四信號S1、S2并提供第二測量信號SDC，所述第二測量信號SDC指示所述差動電流ID的非時變分量的方向。

2.根據權利要求1所述的電子設備，其特征在于包括第五信號處理裝置(10)，被配置以處理所述第一和第二測量信號IDCM、SDC并提供指示所述差動電流ID的非時變分量的第四測量信號IDC。

3.根據權利要求2所述的電子設備，其特征在于包括：

-第六信號處理裝置(7)，被配置以處理所述第一信號V1并提供指示所述差動電流ID的第五信號VD2；

-第七信號處理裝置(8)，被配置以處理所述第五信號VD2并提供指示所述差動電流ID的絕對值的第三測量信號IDM。

4.根據權利要求1所述的電子設備，其特征在于所述第一信號處理裝置(3)被配置以提供指示所述差動電流的第六信號VD3，所述電子設備包括第八信號處理裝置(9)，所述第八信號處理裝置(9)被配置以處理所述第六信號VD3并提供指示所述差動電流ID的絕對值的第三測量信號IDM。

5.根據權利要求3所述的電子設備，其特征在于所述第五信號處理裝置(10)還被配置以處理所述第一和第三測量信號IDCM、IDM并提供指示所述差動電流ID的時變分量的第五測量信號IAC。

6.根據權利要求3所述的電子設備，其特征在于所述第五信號處理裝置(10)還被配置以處理所述第一、第二和第三測量信號IDCM、SDC、IDM并提供指示所述差動電流ID的第六測量信號IDT。

7.根據權利要求2所述的電子設備，其特征在于所述第五信號處理裝置(10)還被配置以處理所述第一和第二測量信號IDCM、SDC和所述第一信號V1并提供指示所述差動電流ID的時變分量的第五測量信號IAC和/或指示所述差動電流ID的第六測量信號IDT。

8.根據權利要求1-7中的一項所述的電子設備，其特征在于所述第一信號處理裝置(3)包括：

-第一信號處理模塊(31)，被配置以執行所述第一信號V1的放大和振幅濾波，所述第一信號處理模塊提供指示所述差動電流ID的第一中間信號VI1；

-第二信號處理模塊(32)，被配置以執行所述第一中間信號VI1的波形整流，所述第二信號處理模塊提供第二中間信號VI2；

-第三信號處理模塊(33)，被配置以執行所述第二中間信號VI2的低通濾波，所述第三信號處理模塊提供所述第二信號VD。

9.根據權利要求1-7中的一項所述的電子設備，其特征在于所述第二信號處理裝置(4)包括第四處理模塊(41)，所述第四處理模塊(41)被配置以借助于第一變換函數TF來處理所述第二信號VD，所述第四信號處理模塊提供所述第一測量信號IDCM。