[發明專利]一種水位檢測系統

在審

• 申請號: 201510836577.0
• 申請日: 2015-11-26
• 公開（公告）號: CN106802176A
• 公開（公告）日: 2017-06-06
• 發明（設計）人: 蔡浩原;方東明;黃輝;曹天揚;劉昶
• 申請（專利權）人: 中國科學院電子學研究所
• 主分類號: G01F23/14
• 分類號: G01F23/14
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 宋焰琴

1.一種水位檢測系統，其包括：

待測水位容器，用于存儲一定體積的液體；

導管，其一端與密閉氣室連通，另一端與所述待測水位容器連通；

密閉氣室，其進氣孔與所述導管相連，該密閉氣室的頂部與所述待測水位容器的頂部平齊；當待測水位容器中的水位發生改變時，密閉氣室中的氣壓也會發生改變，通過測量密閉氣室中氣壓的變化，能夠推算出所述待測水位容器中液體的高度；

防水透氣隔膜，位于導管與密閉氣室的接口處，能夠允許氣體分子通過，阻止水分子透過，以保證密閉氣室內的氣壓與導管內氣壓相等，但又起到防水的作用；

壓力檢測模塊，置于密閉氣室，用于測量所述密閉氣室內的氣壓。

2.如權利要求1所述的系統，其中，所述導管的材質采用柔軟可彎折材料。

3.如權利要求1所述的系統，其中，所述防水透氣隔膜為高分子薄膜。

4.如權利要求1所述的系統，其中，所述壓力檢測模塊為壓差傳感器。

5.如權利要求4所述的系統，其中，所述壓差傳感器為壓力應變膜。

6.如權利要求5所述的系統，其中，所述壓力應變膜為金屬應變片或者利用MEMS工藝加工的硅壓阻式壓力應變膜。

7.如權利要求4或5所述的系統，其中，當密閉腔室的內部壓力P1與外部大氣壓力P0不相等時，引起所述壓力應變膜膜片的形變，通過測量壓敏電阻阻值變化，計算得到二者的壓力差值；然后根據所述壓力差值計算得到待測水位容器中的水位高度。

8.如權利要求1所述的系統，其中，所述壓力檢測模塊包括第一壓力傳感器和第二壓力傳感器，所述第一壓力傳感器置于所述密閉氣室內的頂部，所述第二壓力傳感器位于所述密閉氣室外部，與所述第一壓力傳感器相對設置。

9.如權利要求8所述的系統，其中，所述第一壓力傳感器用于測量密閉氣室內的第一氣壓，所述第二壓力傳感器用于測量所述密閉氣室外部的第二氣壓，通過計算第一氣壓和第二氣壓之間的差值計算得到待測水位容器中的水位高度。

10.如權利要求1所述的系統，其中，所述壓力檢測模塊包括壓力傳感器，用于檢測待測水位容器注水前所述密閉氣室內的第一氣壓，并檢測待測水位容器中注水后所述密閉氣室內的第二氣壓；利用所述第一氣壓和第二氣壓之間的差值計算得到待測水位容器中的水位高度。