[發明專利]一種大幅面高速高精度自動光學檢測設備在審
| 申請號: | 201510828145.5 | 申請日: | 2015-11-25 |
| 公開(公告)號: | CN105486341A | 公開(公告)日: | 2016-04-13 |
| 發明(設計)人: | 張星祥;王文華;張帆;孫斌;谷倉 | 申請(專利權)人: | 長春乙天科技有限公司 |
| 主分類號: | G01D21/00 | 分類號: | G01D21/00 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 于曉慶 |
| 地址: | 130062 吉林省長春市高新北*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 大幅面 高速 高精度 自動 光學 檢測 設備 | ||
1.一種大幅面高速高精度自動光學檢測設備,其特征在于,包括:
支撐平臺(2);
固定在支撐平臺(2)底部的減震支架(1);
設置在支撐平臺(2)上表面且相互平行的兩個平移導軌副(3);
放置在平移導軌副(3)上的工件臺(5);
固定在支撐平臺(2)上表面且位于工件臺(5)正下方的透射照明光源(4);
固定在支撐平臺(2)后端且與工件臺(5)相連的精密驅動裝置(6),所 述精密驅動裝置(6)通過電機驅動工件臺(5),使工件臺(5)隨著平移導軌 副(3)的滑動在支撐平臺(2)上單方向往復運動和定位;
控制系統,用于顯示設備當前狀態,用于驅動精密驅動裝置(6)運行,用 于控制拼接探測器焦面組件(14)的探測器幀頻,用于人機交互設置、顯示設 備程序運行狀態及檢測結果輸出,用于實現成像圖像的拼接和處理,用于將拼 接圖像與標準文件進行對比、實現工件誤差檢測;
與控制系統相連的光柵尺(7),所述光柵尺(7)的讀數頭和光柵分別安裝 在工件臺(5)和支撐平臺(2)上,用于測量工件臺(5)移動的速度和位置并 將速度和位置信號反饋給控制系統,通過控制系統控制精密驅動裝置(6)運行 使工件臺(5)運動,所述工件臺(5)移動的速度與拼接探測器焦面組件(14) 的探測器幀頻匹配;
固定在支撐平臺(2)上表面邊緣且位于兩個平移導軌副(3)外側的鏡頭 支架(9);
固定在鏡頭支架(9)內側的反射照明光源(10);
固定在鏡頭支架(9)上表面的反射鏡(11)和精密調焦平臺(12);
固定在精密調焦平臺(12)上表面且水平設置的大視場高精度鏡頭(13) 和拼接探測器焦面組件(14),所述大視場高精度鏡頭(13)前后端分別對準反 射鏡(11)和拼接探測器焦面組件(14),所述反射鏡(11)與大視場高精度鏡 頭(13)的光軸(29)成45°夾角,所述反射鏡(11)用于轉折成像檢測光路, 通過調整精密調焦平臺(12)使工件臺(5)上的工件與拼接探測器焦面組件(14) 的探測器感光面完全共軛,且拼接探測器焦面組件(14)與工件臺(5)通過大 視場高精度鏡頭(13)完全共軛。
2.根據權利要求1所述的一種大幅面高速高精度自動光學檢測設備,其特 征在于,所述控制系統包括:
計算機(17),用于連接并控制所有電聯組件,是整個設備中樞;
與計算機(17)電連接的設備狀態燈(15),用于顯示設備當前狀態;
與計算機(17)電連接的顯示器(18),用于人機交互設置、顯示設備程序 運行狀態及檢測結果輸出;
分別與計算機(17)、精密驅動裝置(6)、光柵尺(7)和拼接探測器焦面 組件(14)電連接的控制器(16),用于驅動精密驅動裝置(6)運行,用于控 制拼接探測器焦面組件(14)的探測器幀頻;
安裝在計算機(17)中的圖像采集卡和控制軟件,用于實現成像圖像的拼 接和處理,用于將拼接圖像與標準文件進行對比、實現工件誤差檢測。
3.根據權利要求1所述的一種大幅面高速高精度自動光學檢測設備,其特 征在于,還包括安裝在支撐平臺(2)和工件臺(5)之間的工件指示器(8), 所述工件指示器(8)位于透射照明光源(4)前端;當工件臺(5)上有工件并 移動工件指示器(8)時,所述工件指示器(8)給出一個控制信號,開始成像 檢測。
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