[發明專利]一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀

在審

• 申請號: 201510826674.1
• 申請日: 2015-11-25
• 公開（公告）號: CN105403142A
• 公開（公告）日: 2016-03-16
• 發明（設計）人: 張代林;朱鴻;左蘇;劉陽;陳幼平;張岡;張興;張湧正
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G01B7/34
• 分類號: G01B7/34
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張大威

1.一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，包括機械探針（7），步進電機（1），磁柵尺、底座（6），其特征是在所述底座（6）的兩端設有支架（5），支架（5）的一端安裝有步進電機（1），在支架（5）的中間設置絲杠導軌（2），步進電機（1）與絲杠導軌（2）連接，在絲杠導軌（2）上設置滑塊（3）；所述磁柵尺為開放式，包括磁條（8）、磁頭（9）；所述磁柵尺安裝在所述滑塊（3）的外表面，在所述滑塊（3）上設置固定架（4），所述探針（7）直接與磁條（8）固定在固定架（4）上，所述磁頭（9）設置在滑塊（3）上，所述磁頭（9）與探針（7）相嵌合。

2.根據權利要求1所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是所述磁條（8）的輸出端與微型PC機連接，所述探針（7）的位移轉化為所述磁條（8）的位移，所述磁條（8）位移轉化為模擬量輸出至微型PC。

3.根據權利要求1所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是所述探針（7）包括探針內芯（12）、探針外芯（13），在探針內芯（12）的下部設有彈簧（14）。

4.根據權利要求2所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是在所述探針內芯（12）的上部安裝支撐架（11），支撐架（11）為倒“L”型，在“L”型的豎直邊安裝磁條（8）。

5.根據權利要求3所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是在所述磁條（8）與所述探針內芯（12）相平行。

6.根據權利要求2所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是所述探針（7）在固定架（4）上的固定端利用彈簧（14）保持探針（7）始終與待測平面（10）保持接觸。