[發明專利]一種屏幕缺陷檢測方法及裝置在審
| 申請號: | 201510824194.1 | 申請日: | 2015-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN105301810A | 公開(公告)日: | 2016-02-03 |
| 發明(設計)人: | 萬慧娟 | 申請(專利權)人: | 上海斐訊數據通信技術有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務所 31219 | 代理人: | 王再朝 |
| 地址: | 201616 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 屏幕 缺陷 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種屏幕缺陷檢測方法,其特征在于,用以對電子設備的屏幕的缺陷進行檢測,所述方法包括以下步驟:
令所述屏幕顯示一測試圖像;
啟動一攝像頭,用以拍攝所述測試圖像,生成一圖像信號;
對所述圖像信號進行預處理;
將預處理后的所述圖像信號根據一預設檢測方式進行檢測,以檢測所述屏幕的缺陷狀況。
2.根據權利要求1所述的屏幕缺陷檢測方法,其特征在于:所述屏幕的缺陷檢測包括對屏幕的明暗對比度檢測,當對所述屏幕的明暗對比度進行檢測時,所述預設檢測方式為:通過加權平均得到所述圖像信號的平均亮度,并將其與一標準亮度值進行比對,當兩者差異大于一閾值時,所述屏幕的明暗對比度不合格;當兩者差異小于所述閾值時,所述屏幕的明暗對比度合格。
3.根據權利要求1所述的屏幕缺陷檢測方法,其特征在于:所述屏幕的缺陷檢測包括對屏幕的亮線、暗線、漏光、亮點、色點、暗點、黑點、白點、異物點、以及線狀缺陷中的一種或多種進行檢測;其中,所述預設檢測方式包括以下中的一種或多種:濾波、二值化、膨脹操作、腐蝕操作、邊緣檢測、尋找輪廓、以及繪制輪廓。
4.根據權利要求1所述的屏幕缺陷檢測方法,其特征在于:所述對圖像信號進行預處理的方式包括以下中的一種或多種:感興趣區域矩形提取、感興趣區域幾何校正、以及圖像噪聲濾波。
5.根據權利要求1所述的屏幕缺陷檢測方法,其特征在于:還用以通過一人機交互界面,對所述電子設備的屏幕進行操作,且對所述屏幕的檢測結果進行顯示。
6.一種屏幕缺陷檢測裝置,其特征在于,用以對電子設備的屏幕的缺陷進行檢測,包括:
控制單元,與所述屏幕電連接,用以根據一輸入指令,令所述屏幕顯示一測試圖像,且用以控制一攝像頭拍攝所述測試圖像,并接收所述攝像頭根據對所述測試圖像的拍攝而傳送的圖像信號;
攝像頭,與所述控制單元電連接,用以根據所述控制單元的控制指令,拍攝所述屏幕的測試圖像,且生成一圖像信號,并將所述圖像信號傳送給所述控制單元;
其中,所述控制單元還用以對所述圖像信號進行預處理,并將預處理后的所述圖像信號根據一預設檢測方式進行檢測,以檢測所述屏幕的缺陷狀況。
7.根據權利要求6所述的屏幕缺陷檢測裝置,其特征在于:所述屏幕的缺陷檢測包括對屏幕的明暗對比度檢測,當對所述屏幕的明暗對比度進行檢測時,所述預設檢測方式為:通過加權平均得到所述圖像信號的平均亮度,并將其與一標準亮度值進行比對,當兩者差異大于一閾值時,所述屏幕的明暗對比度不合格;當兩者差異小于所述閾值時,所述屏幕的明暗對比度合格。
8.根據權利要求6所述的屏幕缺陷檢測裝置,其特征在于:所述屏幕的缺陷檢測還包括對屏幕的亮線、暗線、漏光、亮點、色點、暗點、黑點、白點、異物點、以及線狀缺陷中的一種或多種進行檢測;其中,所述預設檢測方式包括以下中的一種或多種:濾波、二值化、膨脹操作、腐蝕操作、邊緣檢測、尋找輪廓、以及繪制輪廓。
9.根據權利要求6所述的屏幕缺陷檢測裝置,其特征在于:所述圖像信號預處理的方式包括以下中的一種或多種:感興趣區域矩形提取、感興趣區域幾何校正、以及圖像噪聲濾波。
10.根據權利要求6所述的屏幕缺陷檢測裝置,其特征在于:還包括一人機交互界面,用以根據對所述人機交互界面的操作以對所述電子設備的屏幕進行相應的控制,且用以顯示所述控制單元對所述屏幕的檢測結果。
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