[發明專利]一種對物體進行三維掃描的方法、裝置及系統有效
| 申請號： | 201510823897.2 | 申請日： | 2015-11-23 |
| 公開（公告）號： | CN106767394B | 公開（公告）日： | 2019-04-26 |
| 發明（設計）人： | 郁樹達 | 申請（專利權）人： | 深圳超多維科技有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人： | 許靜;黃燦 |
| 地址： | 518054 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 三維掃描 攝像頭坐標系 三維坐標 成像點 反射點 裝置及系統 目標物體 深度攝像頭 獲取目標 立體掃描 反射鏡 直射 拍攝 | ||
1.一種對物體進行三維掃描的方法，其特征在于，包括：
在利用深度攝像頭對目標物體進行拍攝時，獲取目標物體的直射點在攝像頭坐標系中的三維坐標；
獲取所述目標物體的反射點的成像點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標，其中所述成像點是所述反射點在對應的反射鏡中的成像點；
根據所述成像點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標獲取所述反射點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標；
所述根據所述成像點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標獲取所述反射點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標，包括：
獲取從所述攝像頭坐標系到所述反射鏡所在的反射鏡坐標系的轉換參數；
根據所述轉換參數和所述成像點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標獲取所述成像點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述轉換參數和所述成像點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標獲取所述成像點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標的步驟之后,所述方法還包括：
根據所述成像點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標獲取所述反射點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標；
根據所述轉換參數和所述反射點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標獲取所述反射點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述獲取從所述攝像頭坐標系到所述反射鏡所在的反射鏡坐標系的轉換參數，包括：
獲取從所述攝像頭坐標系到所述反射鏡坐標系的平移向量；
獲取從所述攝像頭坐標系到所述反射鏡坐標系的旋轉矩陣。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述獲取從所述攝像頭坐標系到所述反射鏡坐標系的旋轉矩陣，包括：
任意選定兩個標記點，使得所述兩個標記點組成的線段垂直于所述反射鏡所在的平面；
分別獲取所述兩個標記點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標；
根據所述兩個標記點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標獲取所述線段的方向向量在所述攝像頭坐標系中的三維坐標；
根據所述線段的方向向量在所述攝像頭坐標系中的三維坐標和所述攝像頭坐標系獲取從所述攝像頭坐標系到所述反射鏡坐標系的旋轉矩陣；
所述旋轉矩陣為：
ZD×VD是ZD與VD的向量積，[V]X為向量v的向量積矩陣，其中
其中R表示旋轉矩陣，ZD表示所述攝像頭坐標系的Z軸，VD表示所述反射鏡坐標系的Z軸，I表示單位矩陣。
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述成像點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標獲取所述反射點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標，包括：
獲取坐標轉換函數；
利用所述坐標轉換函數對所述成像點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標進行運算，獲取所述反射點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標。
6.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述反射點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標表示為：
XD＝XMR-1-T；
其中，XD表示所述反射點在所述攝像頭坐標系中的三維坐標，XM表示所述反射點在所述反射鏡坐標系中的三維坐標，R表示旋轉矩陣，T表示平移向量。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳超多維科技有限公司，未經深圳超多維科技有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510823897.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
