[發明專利]高性能光中繼器

有效

• 申請號: 201510802308.2
• 申請日: 2015-11-19
• 公開（公告）號: CN105721057B
• 公開（公告）日: 2019-01-22
• 發明（設計）人: 方旌;吳佐國;V.伊耶
• 申請（專利權）人: 英特爾公司
• 主分類號: H04B10/291
• 分類號: H04B10/291;H04B10/40
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張金金;付曼

1.一種用于傳遞數據的裝置，所述裝置包括：

特定光學元件，用于：

在特定光學鏈路上從另一個光學元件接收特定光學信號，其中所述特定光學信號識別第一設備的下拉電壓的檢測，所述第一設備的下拉電壓要由另一個光學元件在第一電氣鏈路上檢測；

基于所述特定光學信號在第二電氣鏈路的出站通路上生成合成下拉電壓，其中所述特定光學元件要通過所述第二電氣鏈路耦合于第二設備；

從所述第二設備接收第一信號，其中所述第一信號在所述第二電氣鏈路的第一入站通路上被接收；

從所述第二設備接收第二信號，其中所述第二信號在所述第二電氣鏈路的第二入站通路上被接收；以及

在特定光學鏈路上使所述第一和第二信號復用以向所述第一設備發送所述第一和第二信號。

2.如權利要求1所述的裝置，其中所述特定光學信號包括低頻信號。

3.如權利要求1所述的裝置，其中所述第一和第二信號包括超序列以供在檢測鏈路狀態中使用。

4.如權利要求3所述的裝置，其中基于合成下拉電壓而進入所述檢測鏈路狀態。

5.如權利要求3所述的裝置，其中所述超序列包括電氣有序集的重復序列和若干訓練序列。

6.如權利要求1所述的裝置，其中所述特定光學信號在入站光學通道上被接收，并且所述第一和第二信號在所述特定光學鏈路的出站光學通道上復用。

7.如權利要求1所述的裝置，其中接收所述特定光學信號并且所述合成下拉電壓在接收器檢測狀態中提供。

8.如權利要求7所述的裝置，其中在所述接收器檢測狀態期間監測所述第一電氣鏈路上的下拉電壓。

9.如權利要求1所述的裝置，其中所述第一和第二信號包括嵌入式時鐘信號，并且所述嵌入式時鐘基于所述第二設備本地的晶體并且充當所述第一和第二設備的參考時鐘。

10.如權利要求9所述的裝置，其中所述特定光學元件將復位進入信號轉發到所述第一設備，所述復位進入信號導致轉變到復位狀態，并且所述復位進入信號指示在所述復位狀態期間所述第一設備從所述嵌入式時鐘切換到所述第一設備本地的時鐘。

11.一種用于傳遞數據的裝置，所述裝置包括：

接收器，用于在光學鏈路的特定通路上接收信號；

解復用器，用于將所述信號解復用成多個信號并且將所述多個信號映射到電氣鏈路的多個電氣通路上；

對準邏輯裝置，用于識別所述信號的一部分對應于電氣有序集并且使所述多個信號在所述多個電氣通路上對準；以及

傳送器，用于在所述多個電氣通路上將所述多個信號傳送到特定設備。

12.如權利要求11所述的裝置，其中所述解復用器用于：

確定所述多個信號到所述多個電氣通路上的初始映射；

從所述電氣有序集確定所述初始映射是不正確的；以及

使所述初始映射移位到所述多個信號到所述多個電氣通路上的最后映射。

13.如權利要求11所述的裝置，其中所述電氣有序集包括EIEOS。

14.如權利要求11所述的裝置，其中所述信號源自于另一個設備并且在包括另一多個電氣通路的另一個電氣鏈路上被發送。

15.如權利要求11所述的裝置，其進一步包括：

下拉電壓檢測器，用于檢測所述多個電氣通路中的一個或多個電氣通路上的下拉電壓；

下拉信號發生器，用于在所述光學鏈路上發送信號來向光學元件指示所述下拉電壓。

16.如權利要求15所述的裝置，其中所述光學元件基于所述信號生成合成下拉電壓。