[發明專利]一種高頻沖擊微斷路測試方法及測試系統

有效

• 申請號: 201510799476.0
• 申請日: 2015-11-18
• 公開（公告）號: CN105301431B
• 公開（公告）日: 2019-02-01
• 發明（設計）人: 周群飛;饒橋兵;張可
• 申請（專利權）人: 藍思科技(東莞)有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 陶洪

一種高頻沖擊微斷路測試方法，主要步驟為用高頻脈沖電壓對被測觸摸屏傳感器銀漿線路各通道進行沖擊測試，并自動切換到下一通道進行測試。一種高頻沖擊微斷路測試系統，包括脈沖電壓轉換模塊、控制模塊、及分別與控制模塊連接的供電模塊、IO驅動模塊、通道切換模塊，所述脈沖電壓轉換模塊分別與通道切換模塊、IO驅動模塊、供電模塊連接，脈沖電壓轉換模塊與被測試傳感器銀漿線路各通道連接。本發明利用在電容式觸摸屏的收發電極之間或電極與地之間加壓產生耦合電壓的原理，對通道線路施加占空比小于1的高頻脈沖電壓，使線路的微斷路位置被反復沖擊而完全斷開，防止微斷路缺陷留到下一道工序，且本發明設有多個通道可同時進行沖擊測試，效率高。

技術領域

本發明涉及觸摸屏傳感器測試領域，特別的，涉及觸摸屏傳感器的一種高頻沖擊微斷路測試方法及測試系統。

背景技術

斷路測試在觸摸屏傳感器測試領域中非常頻繁，由于觸摸屏傳感器的銀漿線路繁多，密集交錯，線路缺陷很難排查，產生斷路的隱患，許多線路存在微斷路缺陷，即輕微的斷路缺陷，處于要斷開但又沒有完全斷開的狀態，在前一道斷路測試工序中未被測出，留到下一道工序甚至是產品出廠時才檢測出來，或者出廠使用一段時間后完全斷開需要返廠，帶來不必要的麻煩，目前，微斷路測試多使用高溫高濕、冷熱沖擊等惡劣環境使產品線路惡化而檢出，此方法效率低，不具備量產性，特別需要一種改進方案，使檢測速度提高，具備量產性。中國專利201210377277.7公開了一種柔性線路板觸摸屏IC通道短/斷路測試方法，該方法也只能對完全斷開的線路進行檢測，對于沒有完全斷開的微斷路缺陷，無法檢測。

發明內容

本發明目的在于提供一種高頻沖擊微斷路測試方法及測試系統，以解決背景技術中提出的問題。

一種高頻沖擊微斷路測試方法，包括以下步驟：

1)將電容觸摸屏傳感器銀漿線路各通道中的一個連接到脈沖發生電路的脈沖輸出端，其余通道接比脈沖發生電路的輸出脈沖電壓低的電平或接地；

步驟1中，當電容觸摸屏為不帶發射電極與接收電極的自容式電容觸摸屏時，自容式電容觸摸屏各銀漿線路相對于連接脈沖發生電路的另一端應接地；

2)通過脈沖發生電路對與脈沖輸出端連接的被測觸摸屏傳感器銀漿線路通道發出1個或多個連續脈沖電壓進行沖擊，所述脈沖發生電路對被測觸摸屏傳感器銀漿線路通道提供的脈沖電壓占空比大于0且小于1；

3)一個通道沖擊測試完畢后，切換到下一個被測通道，將下一通道與脈沖發生電路的脈沖輸出端連接，其余通道接比脈沖發生電路的輸出脈沖電壓低的電平或接地；重復步驟1、步驟2的過程，直到所有通道被沖擊測試完畢。

進一步的，所述脈沖發生電路設有多個脈沖輸出端，多個觸摸屏傳感器銀漿線路通道同時分別連接到脈沖發生電路的脈沖輸出端，即同時有多個被測通道接受脈沖電壓沖擊測試。

進一步的，本測試方法使用多路選擇電路對各被測通道進行切換，各個觸摸屏傳感器銀漿線路通道分別連接到多路選擇電路的各個被選擇通道上，脈沖發生電路的脈沖輸出端連接到多路選擇電路的選擇通道上，多路選擇電路在各個觸摸屏傳感器銀漿線路通道中選擇一個通道作為被測通道與脈沖發生電路脈沖輸出端連接，一個被測通道沖擊測試完畢后，由多路選擇電路切換到下一被測通道。

進一步的，所述多路選擇電路對所有被選擇通道按順序編碼，對每個被選擇通道提供一個唯一的四位二進制編碼。

進一步的，所述脈沖發生電路對被測觸摸屏傳感器銀漿線路通道提供的脈沖電壓占空比大于0且小于1，脈沖頻率位于0.1KHz～10KHz之間。