[發(fā)明專利]適用于TBC脫粘缺陷快速檢測(cè)線激光掃描熱波成像方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510794804.8 | 申請(qǐng)日: | 2015-11-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105301051A | 公開(公告)日: | 2016-02-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉戰(zhàn)偉;石文雄;朱文穎;謝惠民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N25/72 | 分類號(hào): | G01N25/72 |
| 代理公司: | 北京市天璽沐澤專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11532 | 代理人: | 鮑曉 |
| 地址: | 100081 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 適用于 tbc 缺陷 快速 檢測(cè) 激光 掃描 成像 方法 | ||
1.一種適用于TBC脫粘缺陷快速檢測(cè)線激光掃描熱波成像方法,其特征在于,包括:
優(yōu)化設(shè)計(jì)快速移動(dòng)的線激光作為線狀熱源,使用所述線狀熱源在TBC試件表面進(jìn)行掃描激勵(lì),在粗掃檢測(cè)階段對(duì)試件表面進(jìn)行大范圍線狀快速掃描,采集獲得粗掃檢測(cè)階段的熱紅外圖像,并進(jìn)行熱紅外圖像分析;對(duì)于發(fā)現(xiàn)疑似缺陷的微區(qū)域進(jìn)行細(xì)掃描,獲得細(xì)掃檢測(cè)階段的熱紅外圖像;
對(duì)于所述粗掃檢測(cè)階段的熱紅外圖像:
進(jìn)行熱紅外圖像后處理,得到全場(chǎng)范圍的缺陷響應(yīng)溫度場(chǎng)圖像和全場(chǎng)范圍的去除噪音熱響應(yīng)后的缺陷響應(yīng)溫度場(chǎng)圖像;采用自適應(yīng)變權(quán)重濾窗方法,得到全場(chǎng)范圍去除包括邊緣噪音在內(nèi)所有噪音影響的缺陷響應(yīng)溫度場(chǎng)圖像;
對(duì)于所述細(xì)掃檢測(cè)階段的熱紅外圖像:
按照瞬態(tài)微面熱源脈沖激勵(lì)的處理方法,對(duì)采集到的某時(shí)間序列內(nèi)的溫度圖像進(jìn)行傅里葉變換,得到微區(qū)域內(nèi)給定頻率下的僅含缺陷響應(yīng)的振幅場(chǎng)和相位場(chǎng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種適用于TBC脫粘缺陷快速檢測(cè)線激光掃描熱波成像方法,其特征在于,
所述得到全場(chǎng)范圍的缺陷響應(yīng)溫度場(chǎng)圖像,進(jìn)一步為:
構(gòu)造沿線激光方向整體平均的全場(chǎng)定向載波溫度場(chǎng),從原始熱紅外圖像中減去全場(chǎng)定向載波溫度場(chǎng),得到噪音減弱且僅含有缺陷響應(yīng)的溫度場(chǎng)圖像,對(duì)所有時(shí)刻的僅含有缺陷響應(yīng)溫度場(chǎng)圖像疊加,得到所述全場(chǎng)范圍的缺陷響應(yīng)溫度場(chǎng)圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種適用于TBC脫粘缺陷快速檢測(cè)線激光掃描熱波成像方法,其特征在于,
得到全場(chǎng)范圍的去除噪音熱響應(yīng)后的缺陷響應(yīng)溫度場(chǎng)圖像,進(jìn)一步為:
用所述粗掃檢測(cè)階段的熱紅外圖像減去沒有熱源激勵(lì)的初始圖像,采用在熱源附近加窗三時(shí)刻求振幅、去除噪音熱響應(yīng)的方法進(jìn)行后處理,將所有時(shí)刻在特定窗口內(nèi)的響應(yīng)振幅場(chǎng)進(jìn)行疊加,得到所述全場(chǎng)范圍的去除噪音熱響應(yīng)后的缺陷響應(yīng)溫度場(chǎng)圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種適用于TBC脫粘缺陷快速檢測(cè)線激光掃描熱波成像方法,其特征在于,
所述優(yōu)化設(shè)計(jì)快速移動(dòng)的線激光作為線狀熱源,進(jìn)一步為:優(yōu)化使用激光打標(biāo)機(jī),電流控制在10A,在TBC試件表面匯聚出紅色的直徑在300微米的激光點(diǎn),控制激光點(diǎn)以直線方向1000mm/s以上的速度做線狀移動(dòng),并以垂直于移動(dòng)方向進(jìn)行掃描。
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