[發明專利]自電容觸控面板的缺陷檢測裝置與檢測方法

有效

• 申請號: 201510746158.8
• 申請日: 2015-11-05
• 公開（公告）號: CN105301429B
• 公開（公告）日: 2018-05-29
• 發明（設計）人: 龔強;王超
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司;武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 張文娟;朱繪

本發明公開了一種自電容觸控面板的缺陷檢測裝置與檢測方法，該缺陷檢測裝置設置有與多行觸控電極分別連接的多個驅動電路，所述驅動電路，包括：預充單元，用于產生為各觸控電極同時預置第一電壓的充電控制信號；同步單元，用于產生為各觸控電極逐行施加第二電壓的充電控制信號；輸出單元，根據所述充電控制信號分別輸出第一電壓與第二電壓對所述觸控電極進行充電；截止單元，根據各行觸控電極所具有的電壓控制位于該行觸控電極前面一行的觸控電極的充電路徑的開啟與關閉。該裝置能夠進一步檢測出存在于觸控電極矩陣中各行觸控電極之間的短路缺陷的情況，且該裝置結構簡單，可靠性高。

技術領域

本發明涉及內嵌式觸摸屏領域，尤其涉及一種自電容觸控面板的缺陷檢測裝置與檢測方法。

背景技術

目前，自電容觸控面板因其具有結構簡單、響應速度快以及靈敏度高等優點而獲得了越來越廣泛的應用，特別是在便攜式移動設備等對體積要求較嚴格的場合中。為了進一步縮小觸控面板的尺寸，現有技術中一般利用觸控操作區域內的公共電極層(COM層)分割成的多個小區塊來形成觸控電極。

圖1為現有技術的IPS液晶顯示器的自電容觸控面板的結構示意圖，圖2為現有技術的用于自電容觸控面板的缺陷檢測方案的示意圖。在圖1中，11為由公共電極層分割形成的觸控電極，12為用于連接每個觸控電極與探測電路的信號線，在觸控電極11與信號線12之間還設置有絕緣層13，各觸控電極11與對應的信號線12通過絕緣層13上的過孔14電連接。由于需要在顯示時通過信號線12為每個觸控電極11傳輸公共電極的電壓Vcom信號，因此信號線12一般會貫穿整個觸控操作區域。具有上述結構的觸控面板，易在信號線12和與其連接的觸控電極11以外的，且位于同一列的其他觸控電極11之間發生短路，進而導致探測電路不能正確識別出觸碰的位置以及顯示異常。例如在圖2中，信號線12a用于連接位于觸控電極矩陣第一行第一列的觸控電極a11，它將貫穿位于第一列的其他觸控電極，在信號線12a與除觸控電極a11以外的其他觸控電極之間易發生短路。

現有技術中檢測信號線12與觸控電極11之間是否存在上述短路缺陷的檢測方案如圖2所示。將各奇數列信號線12均連接于檢測數據線T1，各偶數列信號線12均連接于檢測數據線T2。實際上，是將觸控電極矩陣的各奇數行上的觸控電極11均連接于檢測數據線T1，將觸控電極矩陣的各偶數行上的觸控電極11均連接于檢測數據線T2，開關元件用于控制信號線12與檢測數據線T1和T2的接通與斷開。可以通過對T1和T2分別施加檢測信號，根據各行觸控電極所對應的區塊所顯示出的畫面來判斷是否存在短路缺陷。但上述檢測方案只能檢測出全部奇數行與全部偶數行之間發生短路的情況，而無法進一步確定短路缺陷的具體范圍。

綜上，亟需一種新的檢測方案以解決上述問題。

發明內容

本發明所要解決的技術問題之一是需要提供一種新的檢測方案以確定自電容觸控面板的短路缺陷的具體范圍。

為了解決上述技術問題，本申請的實施例首先提供了一種自電容觸控面板的缺陷檢測裝置，設置有與多行觸控電極分別連接的多個驅動電路，所述驅動電路包括：預充單元，用于產生為各觸控電極同時預置第一電壓的充電控制信號；同步單元，用于產生為各觸控電極逐行施加第二電壓的充電控制信號；輸出單元，根據所述充電控制信號分別輸出第一電壓與第二電壓對所述觸控電極進行充電；截止單元，根據各行觸控電極所具有的電壓控制位于該行觸控電極前面一行的觸控電極的充電路徑的開啟與關閉。

優選地，所述驅動電路還包括：鎖存單元，與所述同步單元相連接，存儲用于逐行啟動各驅動電路的觸發信號。

優選地，所述鎖存單元的輸入端與位于該鎖存單元前面一行的鎖存單元的輸出端相連接。

優選地，所述截止單元串聯接于所述同步單元與所述輸出單元之間，所述截止單元的控制信號輸入端與位于該截止單元后面一行的輸出單元的輸出端相連接。