[發明專利]可避免遭受環境污染的光學偵測裝置

有效

• 申請號: 201510736034.1
• 申請日: 2015-11-03
• 公開（公告）號: CN106648041B
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發明（設計）人: 沈啟智;賴鴻慶
• 申請（專利權）人: 原相科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/01
• 分類號: G06F3/01;G06F3/042
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

本發明公開了一種可避免遭受環境污染的光學偵測裝置，其包含有一殼體，一光偵測組件，以及一透光件。該殼體具有一入光單元和至少一容置結構。該光偵測組件設置在該容置結構內。該透光件設置在該容置結構內且位于該光偵測組件的上方，以至少部份填充該容置結構，并阻擋在該入光單元與該光偵測組件之間。

技術領域

本發明提供一種光學偵測裝置，尤指一種可避免遭受環境污染的光學偵測裝置。

背景技術

現有的穿戴式裝置被廣泛使用在各種不同氣候環境，標榜具有防水、耐熱及耐寒等特色。光學感測裝置裝設于穿戴式裝置上，用以提供高精密度的生物特征感測功能。然而，傳統光學感測裝置對于防塵效果并不完善，光學感測裝置的光感測組件容易受到穿戴者的表層皮屑、汗水、油脂、外部環境的灰塵或懸浮粒子斗的污染，在光感測信息中形成噪聲，大幅破壞了光感測信息的精確性。因此，如何有效改善環境落塵對光感測信息之影響、且不致過份提高制造成本或降低組裝良率的光學感測裝置，便為相關產業的重點發展課題。

發明內容

本發明提供一種可避免遭受環境污染的光學偵測裝置，以解決上述之問題。

本發明之申請專利范圍揭露一種可避免遭受環境污染的光學偵測裝置，其包含有一殼體，一光偵測組件，以及一透光件。該殼體具有一入光單元和至少一容置結構。該光偵測組件設置在該容置結構內。該透光件設置在該容置結構內且位于該光偵測組件的上方，以至少部份填充該容置結構，并阻擋在該入光單元與該光偵測組件之間。

本發明的光學偵測裝置在殼體內設置透光件，透光件阻隔于入光單元和光偵測組件之間。透光件直接貼附于光偵測組件時，透光件可避免經由入光單元(入光孔)掉入殼體的灰塵直接落在光偵測組件上，能夠防止環境落塵污染；透光件懸空地位于光偵測組件上方時，可將灰塵隔離至遠離光偵測組件的位置，隔離距離則視透光件之厚度和/或透光件與光偵測組件之間距而定，藉此減緩環境落塵在光學偵測裝置之取像結果上的干擾幅度。相較現有技術，本發明可以有效降低環境落塵對光學偵測裝置之偵測性能的影響，具有較佳的市場競爭力。

附圖說明

圖1為本發明實施例之將透光件平貼光偵測組件之光學偵測裝置之結構示意圖。

圖2為本發明另一實施例之將透光件懸掛于光偵測組件上方之光學偵測裝置之結構示意圖。

圖3為本發明另一實施例之具有不規則殼體外觀之光學偵測裝置之結構示意圖。

附圖標號說明：

10 光學偵測裝置

12 殼體

14 光偵測組件

16 透光件

161 平整面

18 發光組件

20 隔光件

22 入光單元

24 容置結構

26 出光單元

28 基座

30 罩體

32 連接件

V1 平整面的平面法向量

V2 偵測組件的偵測面法向量

V3 入光單元的平面法向量