[發(fā)明專利]倒裝焊器件內(nèi)部檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510730607.X | 申請日: | 2015-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN105424796A | 公開(公告)日: | 2016-03-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 潘凌宇;王伯淳;張吉;楊城;馬清桃;李小紅 | 申請(專利權(quán))人: | 湖北航天技術(shù)研究院計量測試技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | G01N29/04 | 分類號: | G01N29/04 |
| 代理公司: | 武漢開元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104 | 代理人: | 徐祥生 |
| 地址: | 432000*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 倒裝 器件 內(nèi)部 檢測 方法 | ||
1.倒裝焊器件內(nèi)部檢測方法,包括以下步驟:
S1.將被測倒裝焊器件置于托盤上,將托盤置于掃描塔下方的槽內(nèi),并向槽內(nèi)注入耦合液直至將倒裝焊器件覆蓋為止;
S2.將頻率為230MHz的傳感器裝載到超聲波掃描顯微鏡的掃描塔上,所述傳感器通過數(shù)據(jù)線分別與掃描塔的發(fā)射端和接收端連接,調(diào)節(jié)傳感器的前后左右位置,使傳感器正對倒裝焊器件芯片;
S3.將倒裝焊器件和傳感器表面氣泡去除;
s4.調(diào)節(jié)傳感器,向下聚焦至表面波,傳感器移動過程中波形振幅最大時為最佳聚焦位置,同時調(diào)節(jié)傳感器增益,使波形振幅達(dá)到70%;
S5.繼續(xù)向下聚焦至底部填充膠與芯片界面波;
S6.將該波形置于門設(shè)置內(nèi),門設(shè)置為0.10~0.30μs,寬度為0.03~0.10μs;
S7.調(diào)節(jié)傳感器增益,使填充膠與芯片表面波振幅達(dá)到65%~75%,分辨率選擇3072×3072,使用反射模式進(jìn)行界面掃描;
S8.選擇A-Scan(點掃描)模式,水平移動傳感器,選擇圖片結(jié)構(gòu)相同的區(qū)域作為檢測點,保存檢測點波形和振幅圖;
S9.查看波形圖,觀察相同結(jié)構(gòu)處的灰度,若灰度有差異,執(zhí)行步驟S10a,若灰度無差異,執(zhí)行步驟S10b;
S10a.觀察各檢測點的波形和振幅,若波形有差異并且振幅差異在10%~20%之間,判定被測倒裝焊器件存在微小缺陷,檢測結(jié)束,若波形有差異并且振幅差異超過20%,判定被測倒裝焊器件存在嚴(yán)重缺陷,檢測結(jié)束,若波形有差異并且振幅差異小于10%,執(zhí)行步驟S10b;
S10b.將步驟S2所述傳感器換成頻率為100MHz的傳感器,執(zhí)行步驟S3~S5,找到底部填充膠與芯片界面波后,執(zhí)行步驟S11;
S11.向下繼續(xù)聚焦至底部填充膠與基底界面,傳感器過程移動中波形振幅最大時為最佳聚焦位置;
S12.將該波形置于門設(shè)置內(nèi),門設(shè)置范圍為0.15~0.40μs,寬度為0.03~0.20μs;
S13.調(diào)節(jié)傳感器增益,使填充膠與芯片表面波振幅達(dá)到65%~75%,分辨率選擇4096×4096,使用反射模式進(jìn)行界面掃描;
S14.執(zhí)行步驟S8;
S15.查看波形圖,觀察相同結(jié)構(gòu)處的灰度,若灰度無差異,判定被測倒裝焊器件合格,檢測結(jié)束,若灰度有差異,則觀察各檢測點的波形和振幅,若波形有差異但振幅差異小于10%,判定被測倒裝焊器件基本合格,檢測結(jié)束,若波形有差異并且振幅差異在10%~20%之間,判定被測倒裝焊器件存在微小缺陷,檢測結(jié)束,若波形有差異并且振幅差異超過20%,判定被測倒裝焊器件存在嚴(yán)重缺陷,檢測結(jié)束。
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