[發明專利]一種中間狹縫掃描譜儀及采用該掃描譜儀的光譜定標光源

有效

• 申請號: 201510715945.6
• 申請日: 2015-10-29
• 公開（公告）號: CN105403311B
• 公開（公告）日: 2018-09-21
• 發明（設計）人: 李志剛;王俊博;鄭玉權
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01J3/10
• 分類號: G01J3/10;G01J3/18
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務所(普通合伙) 22210
• 代理人: 南小平

本發明涉及一種中間狹縫掃描譜儀，包括：中間狹縫，色散相減、串接的兩臺光柵單色儀；入射的白光經第一個光柵單色儀色散后，某一波長單色光可經中間狹縫進入第二個光柵單色儀；兩臺所述光柵單色儀中的光柵固定不動；該中間狹縫掃描譜儀可通過所述中間狹縫的平移完成光譜掃描。光譜定標光源，在光路上依次包括：光源、前置光學系統、中間狹縫掃描譜儀、后置光學系統。設有本發明的中間狹縫掃描譜儀的光譜定標光源，基于高精度標準探測器實時為光源單色光輸出定標后，合成的白光輻照待定標儀器，定標給出儀器光譜輻照度/輻亮度響應度，方便、快捷、精度高。

技術領域

本發明涉及光輻射計量技術領域，具體涉及一種中間狹縫掃描譜儀及采用該掃描譜儀的光譜定標光源。

背景技術

近一、二十年國際上在環境科學、大氣物理、氣象學、氣候學等研究的推動下，空間大氣定量光譜遙感技術發展十分迅速。如美國宇航局和歐空局的SBUV/2、OCO、GOME、SCIAMACHY、OMI等，我國的二氧化碳探測儀、臭氧垂直探測儀、臭氧總量探測儀、紫外高光譜臭氧輪廓探測儀等。這些儀器的共同特點是輻射定標精度要求高，傳統的基于黑體輻射定標的光譜輻射標準光源往往不能滿足需要。近年，國際上涌現新一代基于低溫輻射計/標準探測器的高精度光譜遙感儀器定標裝置，如美國SIRCUS，提高了定標精度。

發明內容

本發明要解決現有技術中的技術問題，提供一種中間狹縫掃描譜儀及采用該掃描譜儀的光譜定標光源。

為了解決上述技術問題，本發明的技術方案具體如下：

一種中間狹縫掃描譜儀，包括：中間狹縫，色散相減、串接的兩臺平像場光柵單色儀；入射的白光經第一個光柵單色儀色散后，某一波長單色光可經中間狹縫進入第二個光柵單色儀；

兩臺所述光柵單色儀中的光柵固定不動；

該中間狹縫掃描譜儀可通過所述中間狹縫的平移完成光譜掃描。

采用上述中間狹縫掃描譜儀的光譜定標光源，在光路上依次包括：光源、前置光學系統、中間狹縫掃描譜儀、后置光學系統；

所述光源為前置光學系統提供入射光；

所述前置光學系統可將入射光匯聚，并射入中間狹縫掃描譜儀中的第一個光柵單色儀；

由所述中間狹縫掃描譜儀出射的光可在后置光學系統中進行采集和探測。

在上述技術方案中，所述光源為：氙燈、鹵鎢燈、LED或超連續光源。

在上述技術方案中，所述后置光學系統包括：積分球。

在上述技術方案中，所述前置光學系統為高效聚光鏡。

本發明具有以下的有益效果：

采用本發明的中間狹縫掃描譜儀的光譜定標光源，基于高精度標準探測器實時為光源單色光輸出定標后，合成的白光輻照待定標儀器，定標給出儀器光譜輻照度/輻亮度響應度，方便、快捷、精度高。光譜定標光源通過中間狹縫掃描相繼輸出確定光譜帶寬和中心波長的單色光，可用于構造待定標儀器的光譜雜散光校正矩陣，進行待定標儀器光譜雜散光校正與評價。光譜定標光源可適應待定標儀器需求，通過改變出射狹縫處哈特曼光闌位置來改變定標光束光強(光譜輻照度/輻亮度)。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細說明。

圖1為本發明的中間狹縫掃描譜儀的中間狹縫結構示意圖。

圖2為設有本發明的中間狹縫掃描譜儀的光譜定標光源的工作原理示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明做以詳細說明。