[發明專利]基于分區的陣列天線快速故障診斷方法

在審

• 申請號: 201510697856.3
• 申請日: 2015-10-23
• 公開（公告）號: CN105158621A
• 公開（公告）日: 2015-12-16
• 發明（設計）人: 劉震;鄒德軍;黃建國;江子齊;段前樣
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/02
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 溫利平;陳靚靚

1.一種基于分區的陣列天線快速故障診斷方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：將陣列天線劃分為N個分區，每個分區包含若干輻射單元；在陣列天線的中場區不同位置固定設置M個測試天線，M的取值范圍為M＞1；

S2：對于每個分區，通過雷達控制系統控制關閉分區內的不同輻射單元來模擬各個故障，對無故障和每個模擬故障進行快拍測試得到故障特征向量，快拍測試的方法為：

S2.1：令測試天線序號m＝1；

S2.2：在當前故障情況下，按照預設的幅相參數，通過雷達控制系統控制分區中輻射單元的幅相激勵，使分區波束指向第m個測試天線，記錄M個測試天線各自測得的幅相數據，即幅度值A_mm′和m′＝1,2,…,M；

S2.3：判斷是否m＜M，如果是，令m＝m+1，返回步驟S2.2，否則進入步驟S2.4；

S2.3：根據測得的M組幅相數據構建當前故障對應的特征向量

S3：將所有分區的故障情況及其對應的特征向量一起構建故障數據庫，陣列天線需要測試診斷時，分別對每個分區進行一次快拍測試，獲得該分區的測試向量，先與該分區的無故障特征向量計算相似度，如果相似度大于預設閾值則該分區沒有故障，否則在該分區對應故障特征向量中搜索與測試向量最相似的故障特征向量，對應的故障即為當前分區的故障。

2.根據權利要求1所述的陣列天線快速故障診斷方法，其特征在于，所述測試天線的數量M≥4。