[發(fā)明專(zhuān)利]微半球陀螺諧振子的自對(duì)準(zhǔn)技術(shù)制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510671505.5 | 申請(qǐng)日: | 2015-10-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105387852A | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-03-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王任鑫;白冰;唐軍;曹慧亮;劉源;劉俊;薛晨陽(yáng);張文棟 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中北大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01C19/5691 | 分類(lèi)號(hào): | G01C19/5691;G01C25/00;B81C1/00 |
| 代理公司: | 太原科衛(wèi)專(zhuān)利事務(wù)所(普通合伙) 14100 | 代理人: | 朱源 |
| 地址: | 030051 山*** | 國(guó)省代碼: | 山西;14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半球 陀螺 諧振子 對(duì)準(zhǔn) 技術(shù) 制備 方法 | ||
1.一種傘型微半球陀螺諧振子的自對(duì)準(zhǔn)技術(shù)制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
1)選擇圓形硅片作為襯底并清洗硅襯底(1),并在硅襯底(1)上表面上旋涂光刻膠,光刻形成后續(xù)深硅刻蝕工藝所用的第一掩膜;
2)采用深硅刻蝕工藝并通過(guò)第一掩膜在硅襯底(1)上表面刻蝕形成環(huán)形凹槽(2)結(jié)構(gòu)、圓形凹槽(3)結(jié)構(gòu)和中心柱體(4)結(jié)構(gòu),然后去除剩余的光刻膠即可:其中,環(huán)形凹槽(2)結(jié)構(gòu)緊鄰圓形硅片的周緣開(kāi)設(shè),圓形凹槽(3)結(jié)構(gòu)開(kāi)設(shè)于環(huán)形凹槽(2)結(jié)構(gòu)之內(nèi),中心圓柱體(4)結(jié)構(gòu)位于圓形凹槽(3)結(jié)構(gòu)的中心處,環(huán)形凹槽(2)、圓形凹槽(3)和中心柱體(4)位于同一軸線上,環(huán)形凹槽(2)的槽深、圓形凹槽(3)的槽深以及中心柱體(4)的高度相等;
3)清洗玻璃片(5)和光刻后的硅襯底(1),將玻璃片(5)置于硅襯底(1)上表面上并進(jìn)行硅-玻璃鍵合,環(huán)形凹槽(2)和圓形凹槽(3)與玻璃片(5)之間分別形成密封的腔體;
4)將鍵合好的玻璃片(5)進(jìn)行玻璃面的減薄、研磨和拋光,減薄至80-90μm;
5)在減薄的玻璃片(5)表面依次濺射鉻層、銅層和金層,同時(shí)對(duì)對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記進(jìn)行保護(hù);其中,鉻層厚度為50納米、銅層厚度為600納米、金層厚度為400納米;
6)在金屬層(6)的表面上旋涂光刻膠,光刻形成后續(xù)離子束刻蝕工藝所用的第二掩膜;
7)采用離子束刻蝕工藝并通過(guò)第二掩膜在金屬層(6)上刻蝕形成圓形金屬層片(7)以及若干電極金屬層片(8),然后去除剩余光刻膠即可;其中,圓形金屬層片(7)位于玻璃片(5)的中部且完全覆蓋在硅襯底(1)的圓形凹槽(3)上,若干電極金屬層片(8)均布于玻璃片(5)的周緣緣邊且每個(gè)電極金屬層片(8)橫跨其對(duì)應(yīng)部位的環(huán)形凹槽(2)的槽口;
8)將試樣放入快速退火爐中進(jìn)行高溫處理,將溫度升至玻璃的軟化點(diǎn),硅襯底(1)上的環(huán)形凹槽(2)腔體和圓形凹槽(3)腔體內(nèi)的氣體在內(nèi)外壓力差的作用下會(huì)膨脹,從而將圓形凹槽(3)上覆蓋的玻璃片(5)及圓形金屬層片(7)吹成近似空?qǐng)A球形狀,將環(huán)形凹槽(2)上覆蓋的玻璃片(5)及若干電極金屬層片(8)吹成近似拱門(mén)的形狀;
9)對(duì)所得的試樣用HF緩沖液腐蝕,將沒(méi)有被金屬層(6)覆蓋的玻璃片腐蝕掉,最終得到傘型微半球陀螺諧振子及其檢測(cè)電極和激勵(lì)電極。
2.一種Y型微半球陀螺諧振子的自對(duì)準(zhǔn)技術(shù)制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
1)選擇圓形硅片作為襯底并清洗硅襯底(1),并在硅襯底(1)上表面上旋涂光刻膠,光刻形成后續(xù)深硅刻蝕工藝所用的第三掩膜;
2)采用深硅刻蝕工藝并通過(guò)第三掩膜在硅襯底(1)上表面刻蝕形成環(huán)形凹槽(2)結(jié)構(gòu)和圓形凹槽(3)結(jié)構(gòu),然后去除剩余的光刻膠即可:其中,環(huán)形凹槽(2)結(jié)構(gòu)緊鄰圓形硅片的周緣開(kāi)設(shè),圓形凹槽(3)結(jié)構(gòu)開(kāi)設(shè)于環(huán)形凹槽(2)結(jié)構(gòu)之內(nèi),環(huán)形凹槽(2)和圓形凹槽(3)位于同一軸線上,環(huán)形凹槽(2)和圓形凹槽(3)的槽深相等;
3)清洗玻璃片(5)和光刻后的硅襯底(1),將玻璃片(5)置于硅襯底(1)上表面上并進(jìn)行硅-玻璃鍵合,環(huán)形凹槽(2)和圓形凹槽(3)與玻璃片(5)之間分別形成密封的腔體;
4)將鍵合好的玻璃片(5)進(jìn)行玻璃面的減薄、研磨和拋光,減薄至80-90μm;
5)在減薄的玻璃片(5)表面依次濺射鉻層、銅層和金層,同時(shí)對(duì)對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記進(jìn)行保護(hù);其中,鉻層厚度為50納米、銅層厚度為600納米、金層厚度為400納米;
6)在金屬層(6)的表面上旋涂光刻膠,光刻形成后續(xù)離子束刻蝕工藝所用的第四掩膜;
7)采用離子束刻蝕工藝并通過(guò)第四掩膜在金屬層(6)上刻蝕形成圓環(huán)形金屬層片(9)以及若干電極金屬層片(8),然后去除剩余光刻膠即可;其中,圓環(huán)形金屬層片(9)位于玻璃片(5)的中部且完全覆蓋在硅襯底(1)的圓形凹槽(3)上,若干電極金屬層片(8)均布于玻璃片(5)的周緣緣邊且每個(gè)電極金屬層片(8)橫跨其對(duì)應(yīng)部位的環(huán)形凹槽(2)的槽口;
8)將試樣放入快速退火爐中進(jìn)行高溫處理,將溫度升至玻璃的軟化點(diǎn),硅襯底(1)上的環(huán)形凹槽(2)腔體和圓形凹槽(3)腔體內(nèi)的氣體在內(nèi)外壓力差的作用下會(huì)膨脹,從而將圓形凹槽(3)上覆蓋的玻璃片(5)及圓環(huán)形金屬層片(9)吹成近似空?qǐng)A球形狀,將環(huán)形凹槽(2)上覆蓋的玻璃片(5)及若干電極金屬層片(8)吹成近似拱門(mén)的形狀;
9)對(duì)所得的試樣用HF緩沖液腐蝕,將沒(méi)有被金屬層(6)覆蓋的玻璃片(5)腐蝕掉,最終得到傘型微半球陀螺諧振子及其檢測(cè)電極和激勵(lì)電極。
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G01C 測(cè)量距離、水準(zhǔn)或者方位;勘測(cè);導(dǎo)航;陀螺儀;攝影測(cè)量學(xué)或視頻測(cè)量學(xué)
G01C19-00 陀螺儀;使用振動(dòng)部件的轉(zhuǎn)動(dòng)敏感裝置;不帶有運(yùn)動(dòng)部件的轉(zhuǎn)動(dòng)敏感裝置
G01C19-02 .旋轉(zhuǎn)式陀螺儀
G01C19-56 .使用振動(dòng)部件的轉(zhuǎn)動(dòng)敏感裝置,例如基于科里奧利力的振動(dòng)角速度傳感器
G01C19-58 .不帶有運(yùn)動(dòng)部件的轉(zhuǎn)動(dòng)敏感裝置
G01C19-60 ..電子磁共振或核磁共振陀螺測(cè)量?jī)x
G01C19-64 ..利用薩格萘克效應(yīng),即利用逆向旋轉(zhuǎn)的兩電磁束之間旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生位移的陀螺測(cè)量?jī)x
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