[發(fā)明專利]一種降低單晶硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池片反射率的制絨方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510664795.0 | 申請日: | 2015-10-15 |
| 公開(公告)號: | CN106601862A | 公開(公告)日: | 2017-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曾清華;張杰;宋廣華 | 申請(專利權(quán))人: | 鈞石(中國)能源有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0236 |
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| 地址: | 362000 福建*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 降低 單晶硅 異質(zhì)結(jié) 太陽能電池 反射率 方法 | ||
1.一種降低單晶硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池片反射率的制絨方法,其特征在于:所述方法包括步驟:
用強(qiáng)堿溶液對硅片表面進(jìn)行去損傷層處理;
用氨水、雙氧水混合溶液對硅片進(jìn)行清洗;
用KOH或NaOH溶液與制絨添加劑混合液進(jìn)行制絨,所述制絨在超聲波振蕩頻率為40-100kHz,超聲功率控制在50-500W的狀態(tài)下進(jìn)行;
將制絨后的硅片用鹽酸、雙氧水混合溶液清洗;
用氫氟酸溶液對制絨處理完的硅片進(jìn)行脫水處理,然后慢提拉出片;
烘干硅片。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種降低單晶硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池片反射率的制絨方法,其特征在于:所述KOH或NaOH溶液與制絨添加劑混合液中,KOH或NaOH溶液濃度為1-5%,制絨添加劑濃度為0.2-0.5%,制絨時間為5-15min,制絨溫度為80-85℃。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種降低單晶硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池片反射率的制絨方法,其特征在于:所述去損傷層處理所用的強(qiáng)堿溶液為濃度10%-30%的KOH或NaOH溶液,時間為1-5min,溫度為75-85℃。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種降低單晶硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池片反射率的制絨方法,其特征在于:所述對硅片進(jìn)行清洗所用的氨水、雙氧水混合溶液中,氨水:雙氧水:水混合溶液比例為1:1:10~1:1:5,時間為3-10min,溫度為65-75℃。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種降低單晶硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池片反射率的制絨方法,其特征在于:所述將制絨后的硅片用鹽酸、雙氧水混合溶液清洗, 鹽酸:雙氧水:水混合溶液比例為1:1:10~1:1:5,時間為3-10min,溫度為65-75。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種降低單晶硅異質(zhì)結(jié)太陽能電池片反射率的制絨方法,其特征在于:所述用氫氟酸溶液對制絨處理完的硅片進(jìn)行脫水處理中的氫氟酸的質(zhì)量百分比為1%-6%,時間為3-10min,之后用純水清洗后慢提拉出片。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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