[發明專利]一種高精度的試樣尺寸測量系統

在審

• 申請號: 201510654846.1
• 申請日: 2015-10-12
• 公開（公告）號: CN105157582A
• 公開（公告）日: 2015-12-16
• 發明（設計）人: 王健;孟祥友;馬世國
• 申請（專利權）人: 濟南時代試金試驗機有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 濟南泉城專利商標事務所 37218
• 代理人: 郭禾苗

1.一種高精度的厚板試樣尺寸測量系統，其特征在于：包括由上到下依次安裝的試樣對中位移機構、連接機構、試樣測量機構、試樣夾持機構以及試樣測量驅動機構，其中試樣測量驅動機構安裝于底板的上方；

所述試樣對中位移機構為連桿機構，包括：傳動板、3個旋轉銷、中光軸、短光軸和長光軸，所述中光軸、短光軸和長光軸分別通過3個旋轉銷連接傳動板；所述中光軸的末端與試樣夾持機構通過螺釘抱緊的方式連接并緊固，中光軸的中段與試樣夾持機構連接，中光軸的上端與連接機構連接，連接機構通過螺釘固定在試樣測量機構上，中光軸的頂端通過旋轉銷與傳動板連接；所述短光軸的末端通過連接機構與試樣測量機構固定，短光軸的上端通過旋轉銷與傳動板連接；所述長光軸在中段部分與試樣夾持機構通過螺釘抱死的方式連接并緊固，在下端和上端分別與試樣夾持機構和試樣測量機構連接，長光軸的頂端通過旋轉銷與傳動板連接；所述短光軸位于中光軸和長光軸的間距中心。

2.如權利要求1所述的一種高精度的厚板試樣尺寸測量系統，其特征在于：

所述連接機構包括T型連接件和L型連接件；

所述試樣測量機構包括：橫向光柵尺、縱向光柵尺和立板，所述橫向光柵尺和縱向光柵尺通過連接件與所述立板連接，所述橫向光柵尺和縱向光柵尺均為一套兩件；

所述試樣夾持機構包括：上夾板和下夾板，所述下夾板與底板通過立柱連接并固定；

所述試樣測量驅動機構包括：氣缸和活塞桿，所述氣缸的缸筒與下夾板連接，活塞桿與上夾板連接；

所述中光軸的末端與下夾板通過螺釘抱緊的方式連接并緊固，中光軸的中段通過直線軸承與上夾板連接，中光軸的上端通過直線軸承與L型連接件連接，L型連接件通過螺釘固定在立板上，中光軸的頂端通過旋轉銷與傳動板連接；所述短光軸的末端通過直線軸承與T型連接件連接，T型連接件通過螺釘與立板固定，短光軸的上端通過旋轉銷與傳動板連接；所述長光軸在中段部分與上夾板通過螺釘抱死的方式連接并緊固，長光軸的下端通過直線軸承與下夾板連接，長光軸的上端通過直線軸承與L型連接件連接，L型連接件通過螺釘固定在立板上，長光軸的頂端通過旋轉銷與傳動板連接；所述短光軸位于中光軸和長光軸的間距中心。

3.如權利要求2所述的一種高精度的厚板試樣尺寸測量系統，其特征在于：所述傳動板在短光軸的上端通過旋轉銷與傳動板連接處加工有橫向滑動槽；

所述傳動板在長光軸的頂端通過旋轉銷與傳動板連接處也加工有橫向滑動槽。

4.如權利要求3所述的一種高精度的厚板試樣尺寸測量系統，其特征在于：所述上夾板和下夾板之間留有預設間距，且上夾板可上下活動以夾緊試樣。

5.如權利要求4所述的一種高精度的厚板試樣尺寸測量系統，其特征在于：安裝于立板上的橫向光柵尺位于上夾板和下夾板的間距中心線上。

6.如權利要求5所述的一種高精度的厚板試樣尺寸測量系統，其特征在于：所述立板的下行距離等于上夾板下行距離的一半。