[發明專利]基于雙波長數字全息技術的反射式顯微成像裝置在審
| 申請號: | 201510631957.0 | 申請日: | 2015-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN105159044A | 公開(公告)日: | 2015-12-16 |
| 發明(設計)人: | 陳錢;孫佳嵩;左超;馮世杰;顧國華;張玉珍;胡巖;張良;陶天陽;李加基;張佳琳;孔富城;林飛;張敏亮;范瑤 | 申請(專利權)人: | 南京理工大學 |
| 主分類號: | G03H1/04 | 分類號: | G03H1/04 |
| 代理公司: | 南京理工大學專利中心 32203 | 代理人: | 唐代盛 |
| 地址: | 210094 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 波長 數字 全息 技術 反射 顯微 成像 裝置 | ||
1.一種基于雙波長數字全息技術的反射式顯微成像裝置,其特征在于包括第一激光器(1)、第二激光器(16)、集光鏡(2)、聚光鏡針孔光闌(3)、聚光鏡(4)、第一平面鏡(10)、第二分束鏡(11)、鏡筒透鏡(12)、顯微物鏡(13)、相機(15)、第六平面鏡(17)、第一衰減片(18)與第二平面鏡(19)、第三分束鏡(20),所述的聚光鏡針孔光闌(3)放置在集光鏡(2)的后焦面位置,同時也是聚光鏡(4)的前焦面位置;其中第一激光器(1)發出的激光依次經過第三分束鏡(20)、集光鏡(2)匯聚到聚光鏡針孔光闌(3),光通過聚光鏡針孔光闌(3)發散后又被聚光鏡(4)收集變成平行光,再經過第一平面鏡(10)反射被第二分束鏡(11)分成兩路:其中一路經過鏡筒透鏡(12)和顯微物鏡(13)后再次變成平行光照射待測樣品(14),然后被待測樣品(14)反射的光經過顯微物鏡(13)和鏡筒透鏡(12)以及第二分束鏡(11)后垂直照射相機的成像平面(15),這一路稱為物光光路;另外一路經過第一衰減片(18)衰減光強,被第二平面鏡(19)反射,再通過第一衰減片(18)被衰減,最后通過第二分束鏡(11)后傾斜照射相機(15)的成像平面,這一路參考光與物光干涉,形成的干涉圖由相機(15)記錄下來;與此同時,第二激光器(16)發出的激光經過第六平面鏡(17)反射后經過第三分束鏡(20)被反射,然后和第一激光器(1)發出的激光經過相同的光路,在相機(15)成像平面形成干涉圖并被記錄下來。
2.一種基于雙波長數字全息技術的反射式顯微成像裝置,其特征在于包括第一激光器(1)、第二激光器(16)、集光鏡(2)、聚光鏡針孔光闌(3)、聚光鏡(4)、第一分束鏡(5)、第三平面鏡(6)、第二衰減片(7)、第四平面鏡(8)、第五平面鏡(9)、第一平面鏡(10)、第二分束鏡(11)、鏡筒透鏡(12)、顯微物鏡(13)、相機(15)、第六平面鏡(17)、第三分束鏡(20),所述的聚光鏡針孔光闌(3)放置在集光鏡(2)的后焦面位置,同時也是聚光鏡(4)的前焦面位置;其中第一激光器(1)發出的激光依次經過第三分束鏡(20)、集光鏡(2)匯聚到聚光鏡針孔光闌(3),光通過聚光鏡針孔光闌(3)發散后又被聚光鏡(4)收集變成平行光,再被第一分束鏡(5)分成兩路:其中一路經過第一平面鏡(10)反射后經過第二分束鏡(11),再經過鏡筒透鏡(12)和顯微物鏡(13)后變成平行光照射待測樣品(14),然后被待測樣品(14)反射的光經過顯微物鏡(13)和鏡筒透鏡(12)以及第二分束鏡(11)后垂直照射相機(15)的成像平面,這一路稱為物光光路;另外一路經過第三平面鏡(6)反射后經過第七衰減片(7)衰減光強,依次被第四平面鏡(8)和第五平面鏡(9)反射后,通過第二分束鏡(11)后傾斜照射相機(15)的成像平面,這一路參考光與物光干涉,形成的干涉圖由相機(15)記錄下來;與此同時,第二激光器(16)發出的激光經過第六平面鏡(17)反射后經過第三分束鏡(20)被反射,然后和第一激光器(1)發出的激光經過相同的光路,在相機(15)成像平面形成干涉圖并被記錄下來。
3.一種基于雙波長數字全息技術的反射式顯微成像裝置,其特征在于包括激光器(1)、第二激光器(16)、光纖分路器(21)、第一聚光鏡(4)、第二聚光鏡(22)、第二衰減片(7)、第四平面鏡(8)、第五平面鏡(9)、第一平面鏡(10)、第二分束鏡(11)、鏡筒透鏡(12)、顯微物鏡(13)、相機(15),其中第一激光器(1)和第二激光器(16)發出的激光通過光纖耦合進入光纖分路器(21),混合并且分成兩路后再通過光纖耦合輸出,每一路光纖輸出都包含第一激光器(1)和第二激光器(16)發出的激光,兩個輸出的光纖頭分別位于第一聚光鏡(4)、第二聚光鏡(22)的焦點位置,以保證經過第一聚光鏡(4)、第二聚光鏡(22)后出射的是平行光;在分成的兩路中,一路經過第一平面鏡(10)反射后經過第二分束鏡(11)再經過鏡筒透鏡(12)和顯微物鏡(13)后,再次變成平行光照射待測樣品(14),然后被待測樣品(14)反射的光經過顯微物鏡(13)和鏡筒透鏡(12)以及第二分束鏡(11)后垂直照射相機(15)的成像平面,這一路稱為物光光路;另外一路經過第二衰減片(7)衰減光強,依次被第四平面鏡(8)、第五平面鏡(9)反射,最后通過第二分束鏡(11)傾斜照射相機(15)的成像平面,這一路參考光與物光干涉,形成的干涉圖由相機(15)記錄下來。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南京理工大學,未經南京理工大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510631957.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:膠塞超聲波清洗機的空氣攪拌器
- 下一篇:一種屏蔽罩固定的濾波器





