[發明專利]半導體裝置以及包括半導體裝置的AC電阻測量系統

有效

• 申請號: 201510623786.7
• 申請日: 2015-09-25
• 公開（公告）號: CN105455809B
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 平井正人;林秀玲
• 申請（專利權）人: 瑞薩電子株式會社
• 主分類號: A61B5/053
• 分類號: A61B5/053
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華

1.一種AC電阻測量系統，包括：

半導體裝置，所述半導體裝置包括：

AC電壓生成單元，所述AC電壓生成單元根據控制信號來生成具有振幅的AC電壓；

電阻元件，所述電阻元件被提供成與測量對象相串聯，所述AC電壓被施加到所述電阻元件；

電壓檢測單元，所述電壓檢測單元檢測到在所述電阻元件的兩端之間的差電壓已達到規定電壓；以及

控制單元，所述控制單元基于所述電壓檢測單元的檢測結果來向所述AC電壓生成單元輸出所述控制信號，以使得所述AC電壓生成單元生成致使所述差電壓達到所述規定電壓的所述AC電壓，

算術處理單元，計算所述測量對象的電阻值，

其中，通過對從所述AC電壓生成單元的設定值N的信息獲得的所述AC電壓進行測量，來計算所述測量對象的所述電阻值，其中所述設定值N表示所述AC電壓的所述振幅的幅度。

2.根據權利要求1所述的AC電阻測量系統，其中，

所述電壓檢測單元包括比較器，所述比較器將所述規定電壓與在所述電阻元件的兩端之間的所述差電壓進行比較。

3.根據權利要求2所述的AC電阻測量系統，其中，

所述電壓檢測單元進一步包括放大器電路，所述放大器電路放大在所述電阻元件的兩端之間的所述差電壓，以及

所述比較器將所述規定電壓與所述放大器電路的輸出電壓進行比較。

4.根據權利要求1所述的AC電阻測量系統，其中，

所述電壓檢測單元包括AD轉換器，所述AD轉換器根據在所述電阻元件的兩端之間的所述差電壓來輸出數字值。

5.根據權利要求4所述的AC電阻測量系統，其中，

所述電壓檢測單元進一步包括放大器電路，所述放大器電路放大在所述電阻元件的兩端之間的所述差電壓，以及

所述AD轉換器根據所述放大器電路的輸出電壓來輸出數字值。

6.根據權利要求1所述的AC電阻測量系統，其中，

所述控制單元輸出所述控制信號以使得所述AC電壓的所述振幅逐漸增加，直至所述電壓檢測單元檢測到所述差電壓已達到所述規定電壓。

7.根據權利要求1所述的AC電阻測量系統，其中，所述AC電壓生成單元包括：

AC電壓源，所述AC電壓源生成具有預定振幅的AC電壓；以及

可變放大器電路或衰減器，所述可變放大器電路根據所述控制信號來放大具有振幅的所述AC電壓，所述衰減器根據所述控制信號來衰減具有振幅的所述AC電壓。

8.根據權利要求1所述的AC電阻測量系統，其中，

所述AC電壓被施加到經過所述電阻元件和所述測量對象的電流通路的一端，并且

基準電壓被施加到所述電流通路的另一端。

9.根據權利要求8所述的AC電阻測量系統，進一步包括：

基準電壓生成電路，所述基準電壓生成電路將所述基準電壓施加到所述電流通路的另一端。

10.根據權利要求1所述的AC電阻測量系統，其中，

所述AC電壓被施加到經過所述電阻元件和所述測量對象的電流通路的一端，并且

通過反相所述AC電壓而得到的電壓被施加到所述電流通路的另一端。

11.根據權利要求10所述的AC電阻測量系統，進一步包括：

非反相放大器電路，所述非反相放大器電路放大所述AC電壓并將被放大的AC電壓輸出到所述電流通路的一端；以及

反相放大器電路，所述反相放大器電路反相并放大所述AC電壓，以及將被反相且放大的AC電壓輸出到所述電流通路的另一端。

12.根據權利要求1所述的AC電阻測量系統，

其中所述算術處理單元基于所述AC電壓的值、所述電阻元件的電阻值、以及流過所述電阻元件的交流電流的值來計算所述測量對象的所述電阻值，所述測量對象的電阻值、所述電阻元件的電阻值、以及所述交流電流的值是當所述電壓檢測單元檢測到所述差電壓已達到所述規定電壓時被測量出的。