[發(fā)明專利]一種相變存儲器的編程測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510621821.1 | 申請日： | 2015-09-25 |
| 公開（公告）號： | CN106558347B | 公開（公告）日： | 2020-06-09 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李瑩;詹奕鵬 | 申請（專利權(quán)）人： | 中芯國際集成電路制造（上海）有限公司;中芯國際集成電路制造（北京）有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市磐華律師事務(wù)所 11336 | 代理人： | 高偉;馮永貞 |
| 地址： | 201203 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 相變 存儲器 編程 測試 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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