[發明專利]基于曲線匹配的手背靜脈識別方法有效
| 申請號: | 201510602506.4 | 申請日: | 2015-09-21 |
| 公開(公告)號: | CN105184272B | 公開(公告)日: | 2018-08-21 |
| 發明(設計)人: | 謝劍斌;劉通;李沛秦;閆瑋 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍國防科學技術大學 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00 |
| 代理公司: | 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 胡偉華 |
| 地址: | 410073 湖*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 曲線 匹配 手背 靜脈 識別 方法 | ||
1.一種基于曲線匹配的手背靜脈識別方法,首先對手背靜脈紋路進行提取,手背靜脈紋路提取包括圖像分割、圖像濾波和圖像細化三個部分,然后進行手背靜脈識別,其特征在于,所述手背靜脈識別包括以下步驟:
Step1:曲線掃描
針對圖像細化后的手背靜脈紋路圖像,按照從左到右、從下到上的順序,尋找手背靜脈紋路圖像中的各個關鍵點即端點和交叉點,關鍵點P滿足如下條件:
其中,fT(x,y)表示手背靜脈紋路二值圖像上像素點(x,y)的灰度值,255表示目標,0表示背景;
手背靜脈紋路上各條曲線的掃描方法為:以任意關鍵點為起點,跟蹤手背靜脈紋路上的目標點,目標點即灰度值為255的像素點,直至另一個關鍵點結束;
采用鏈表存儲手背靜脈紋路上各條曲線上的各個目標點,構建曲線集合;
Step2:靜脈特征提取
對于每一條曲線,采用差分法計算曲線上各點的曲率;
曲線上第i個像素點pi的曲率為
其中,|pipi-k|表示曲線上第i個像素點pi與第i-k個像素點pi-k的歐氏距離,類似地,|pipi+k|表示像素點pi與pi+k的歐氏距離,|pi-kpi+k|表示像素點pi-k與pi+k的歐氏距離;k的取值為3;對于曲線上的目標點總數小于7的曲線看作毛刺剔除;
各曲線的特征包括各點的曲率特征,還包括曲線起點和終點的坐標以及曲線上的像素點總數;這樣,任意曲線l的特征可以表示為
Fl={(xS,yS),(xE,yE),N,{Ki|i=4,5,…,N-k}}
其中,(xS,yS)、(xE,yE)分別表示曲線起點和終點的坐標,N表示曲線上的像素點總數;
手背靜脈特征由各曲線特征組成,并加上曲線數量和所有曲線上像素點總數,用于粗篩選;具體表示為
F={M,S,{Fl|l=1,2,…,M}}
其中,M表示曲線數量,S表示所有曲線上像素點總數,也即各曲線上像素點總數的累加和;
Step3:特征匹配
令F(0)表示數據庫中某個手背靜脈特征,F(1)表示待識別手背靜脈圖像特征;兩者之間的匹配步驟為:
Step3.1:粗篩選
如果F(0)和F(1)之間的曲線數量M的差值絕對值大于閾值T1,即|M(0)-M(1)|>T1;或者像素點總數S的差值絕對值大于閾值T2,即|S(0)-S(1)|>T2,則認為F(0)和F(1)不匹配;否則,繼續下一步;
Step3.2:曲線匹配
(1)點匹配,對于F(1)中第l條曲線Fl(1),在F(0)的曲線集合{Fl(0)}中尋找一條曲線Fj(0),該曲線滿足的條件是:Fj(0)的起點與Fl(1)的起點之間的歐氏距離,再加上Fj(0)的終點與Fl(1)的終點之間的歐氏距離,得到的這個距離度量在F(0)的所有曲線中進行比較是最小的;
(2)屬性比較,如果Fj(0)的像素點總數與Fl(1)的像素點總數的差值絕對值大于閾值T3,則認為兩曲線不匹配,返回點匹配步驟,繼續下一條曲線的匹配;否則,進行曲率匹配;
(3)曲率匹配,利用霍夫距離判斷兩曲線上各點曲率是否匹配;記Fj(0)的曲率集合為Kj(0)={Ki(0)|i=4,5,…,N(0)-k},Fl(1)的曲率集合為Kl(1)={Ki(1)|i=4,2,…,N(1)-k},則兩個集合的霍夫距離為
H(Kj(0),Kl(1))=max(h(Kj(0),Kl(1)),h(Kl(1),Kj(0)))
其中,集合A和B之間的距離h(A,B)定義為
其中,a為集合A中的任一元素,b為集合B中的任一元素;如果H(Kj(0),Kl(1))大于閾值T4,則認為兩曲線不匹配;否則,認為兩曲線匹配,匹配曲線數量加1,并標記曲線Fj(0),下次匹配過程不再搜索數據庫中已匹配的曲線;
如果F(1)中所有曲線都已匹配完畢,進入下一步;否則,返回點匹配步驟,繼續下一條曲線的匹配;
(4)比率判決,統計所有匹配的曲線數量,用其除以F(0)和F(1)中曲線數量之和,所得的比率如果大于閾值T5,則認為兩手背靜脈圖像匹配;否則,認為兩手背靜脈圖像不匹配。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國人民解放軍國防科學技術大學,未經中國人民解放軍國防科學技術大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510602506.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





