[發(fā)明專利]一種巖石樣品微區(qū)圈定系統(tǒng)

有效

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• 申請日: 2015-09-16
• 公開（公告）號: CN105092340B
• 公開（公告）日: 2018-03-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 袁海鋒;丁圣斌;龍一慧;百成鋼;高耀;鄭晶;李曦
• 申請（專利權(quán)）人: 成都理工大學(xué)
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;G01B11/00
• 代理公司: 成都頂峰專利事務(wù)所(普通合伙)51224
• 代理人: 趙正寅

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于巖石勘測技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及巖石樣品礦物分析和在微觀下圈定礦物。

背景技術(shù)

目前在國內(nèi)外，在對地質(zhì)理論知識和測試結(jié)果精確度要求越來越高的情況下，對巖石樣品實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性要求也日益提升，部分實(shí)驗(yàn)測試結(jié)果要求精度達(dá)到萬分之一，用于測試的巖石樣品的選取直接影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性。

現(xiàn)有的樣品分析技術(shù)存在以下缺陷：

大于肉眼級別的礦物和樣品微區(qū)可以直接手工用工具獲取。但對于毫米-微米級別的微區(qū)樣品取樣時(shí)，手工方法取樣不僅操作起來非常復(fù)雜，而且取樣準(zhǔn)確度不高，會對實(shí)驗(yàn)結(jié)果造成嚴(yán)重的人為取樣誤差。

現(xiàn)有的激光微區(qū)穩(wěn)定同位素取樣分析系統(tǒng)可以在微觀下用激光加熱分解目的礦物，但是對于難以區(qū)分的礦物，這個方法則行不通。尤其是在對碎屑巖巖石樣品的膠結(jié)物微區(qū)（方解石、白云石、次生石英）取樣時(shí)，肉眼觀察巖石樣品膠結(jié)物的顏色及形態(tài)與周圍礦物顆粒相比差異不大，在實(shí)際加熱分解過程中很難將礦物準(zhǔn)確區(qū)分開。

現(xiàn)有的微區(qū)選樣技術(shù)操作過程過于復(fù)雜，即使在微觀下正確區(qū)別出目的礦物，也很難對礦物進(jìn)行標(biāo)記，更不容易將識別出的目的礦物取出并攜帶至其他實(shí)驗(yàn)室做進(jìn)一步分析測試。此處在巖石樣品選取過程中，結(jié)合樣品的多方面地質(zhì)信息進(jìn)行篩選，在制樣和選樣時(shí)做多種標(biāo)記，可以使多種分析測試的樣品之間更有關(guān)聯(lián)性，得到的分析數(shù)據(jù)也更有參考和利用價(jià)值。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是為了解決上述問題，提供一種巖石樣品微區(qū)圈定系統(tǒng)。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：

一種巖石樣品微區(qū)圈定系統(tǒng)，包括：偏光顯微鏡、熒光顯微鏡、陰極發(fā)光顯微鏡、手電筒、油性筆、圖像處理系統(tǒng)、顯微鏡載玻片；

其中，顯微鏡載玻片，可以放置磨制好的巖石樣品，載玻片大小剛好放進(jìn)陰極發(fā)光顯微鏡的樣品槽子中；

陰極發(fā)光顯微鏡，附有真空泵，可以在近真空狀態(tài)下對巖石礦物放電激發(fā)，使得各種礦物發(fā)出不同顏色的光，并在陰極發(fā)光顯微鏡下放電激發(fā)條件下對目的礦物所在位置拍照；關(guān)閉放電電源保持樣品位置不動，并在反射光環(huán)境下對巖石再次拍照；這在對碎屑巖膠結(jié)物圈定時(shí)尤為有效；陰極發(fā)光顯微鏡需要具有可以放大10×5倍和10×10倍功能，方便在不同放大倍數(shù)下觀察礦物；

圖像處理系統(tǒng)，可對兩張照片進(jìn)行疊合，在反射光拍出的照片上圈定目的礦物的準(zhǔn)確位置；

手電筒，用于在顯微鏡拍照時(shí)提供反射光源，且提供的光源可達(dá)到刺眼的亮度；

油性筆，在顯微鏡微觀條件下，將陰極發(fā)光顯微鏡樣品室的密封蓋子取下后，結(jié)合在反射光下拍的照片和目的礦物的準(zhǔn)確位置，在磨制好的巖石樣品表面用油性筆圈出目的礦物所在的大致位置，并標(biāo)記好第幾個圈；

偏光顯微鏡，具有可以放大10×5倍和10×10倍功能，方便在不同放大倍數(shù)下觀察并圈定目的礦物，對油性筆圈定礦物位置的記號圈拍照，并結(jié)合目的礦物在反射光照片中標(biāo)記的準(zhǔn)確位置，通過圖像處理系統(tǒng)勾繪出目的礦物的準(zhǔn)確位置；同時(shí)還具有拍照功能；

熒光顯微鏡，具有可以放大10×5倍和10×10倍功能，方便在不同放大倍數(shù)下觀察并排除有機(jī)質(zhì)對選礦的干擾；同時(shí)還具有拍照功能。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn)及有益效果：

本發(fā)明專用于對巖石樣品制樣并在微觀條件下對目的礦物進(jìn)行準(zhǔn)確圈定，排除手工和肉眼誤差，使得測試結(jié)果更加精確，且操作簡單，對設(shè)備要求低，從而在一定程度上克服了國內(nèi)外目前對碎屑巖膠結(jié)物測試手段局限性的問題。同時(shí)該系統(tǒng)制作的巖石樣品薄片具有便攜的優(yōu)勢，可以充分利用多個實(shí)驗(yàn)室的儀器設(shè)備對樣品開展測試分析，不僅降低了人員和時(shí)間成本，而且提高了實(shí)驗(yàn)測試精度。

附圖說明

圖1為本發(fā)明巖石樣品進(jìn)行“V”字標(biāo)記并對巖石刻槽后，磨制成的小圓餅巖樣示意圖。

圖2為本發(fā)明對小圓餅巖樣進(jìn)行“A”字標(biāo)記后的示意圖。

圖3為本發(fā)明在陰極發(fā)光下對小圓餅巖樣真空放電后的發(fā)光情況。

圖4為本發(fā)明在反射光下對小圓餅巖樣拍照結(jié)果。

圖5為本發(fā)明對目的礦物大致位置圈定結(jié)果示意圖。

圖6為本發(fā)明對目的礦物準(zhǔn)確位置圈定結(jié)果示意圖。

圖7為本發(fā)明最終制成的巖石樣品薄片背面示意圖。

圖8為本發(fā)明最終制成的巖石樣品薄片正面示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明，本發(fā)明的實(shí)施方式包括但不限于下列實(shí)施例。

實(shí)施例