[發明專利]一種二氧化硫和硫化氫氣體濃度檢測裝置及其檢測方法

在審

• 申請號: 201510588845.1
• 申請日: 2015-09-16
• 公開（公告）號: CN105181615A
• 公開（公告）日: 2015-12-23
• 發明（設計）人: 張云剛;李繼猛;童凱
• 申請（專利權）人: 燕山大學
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31
• 代理公司: 石家莊一誠知識產權事務所 13116
• 代理人: 續京沙

1.一種二氧化硫和硫化氫氣體濃度的檢測裝置，它主要包括：氘燈、第一石英透鏡、測試樣品池、電磁閥、壓力計、第二石英透鏡、攝譜儀和計算機，其特征在于：所述氘燈作為光源，它的前方設有與氘燈發出的光線同軸的第一石英透鏡，在第一石英透鏡與第二石英透鏡之間設有測試樣品池，在第二石英透鏡的另一側設有一臺攝譜儀，攝譜儀的數據輸出端與計算機連接，在上述測試樣品池的底部通過管路分別與電磁閥和壓力計連接，在與電磁閥和壓力計連接的管路上分別設有閥門。

2.使用權利要求1所述的二氧化硫和硫化氫氣體濃度的檢測裝置進行檢測方法，其特征在于：

(1)通過攝譜儀得到被測二氧化硫和硫化氫氣體在185-235nm的特征吸收光譜；

(2)對波長為185-235nm的兩種氣體特征吸收光譜數據進行多項式擬合，得到擬合數據I(λ_K)；

(3)把吸收光譜數據I(λ_I)和擬合數據I(λ_K)代入N＝∑∣ln(I(λ_I)/I(λ_K))∣/∑(σ(λ_I)×L)公式中，即可得出被測二氧化硫氣體濃度，公式中的σ(λ_I)為二氧化硫氣體在不同波長處的快變吸收截面值，L為樣品池的有效光程值，N為被測二氧化硫氣體的平均濃度；

(4)把二氧化硫氣體濃度代入公式C＝∑∣ln(I(λ_I)/I(λ_K))-σ₁NL∣/∑(σ₂(λ)×L)得到硫化氫氣體的濃度，C為被測硫化氫氣體濃度，σ₁為二氧化硫吸收截面，σ₂(λ)為硫化氫吸收截面。