[發明專利]一種半球型動壓馬達軸承間隙測量裝置及方法

有效

• 申請號: 201510583887.6
• 申請日: 2015-09-14
• 公開（公告）號: CN105203018B
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 黃德;董君華;崔硯;蘇義兵;謝應隆;常靜緩;石寧霞;李廣平
• 申請（專利權）人: 北京航天控制儀器研究所
• 主分類號: G01B7/14
• 分類號: G01B7/14
• 代理公司: 中國航天科技專利中心11009
• 代理人: 張麗娜

1.半球型動壓馬達軸承間隙測量裝置，其特征在于：包括電感測微儀、平板、軸向間隙測量工裝、測頭連接線、滑輪線繩、定滑輪、定滑輪支架、電感測微儀測頭支架和砝碼；電感測微儀上帶有電感測微儀測頭；

軸向間隙測量工裝包括第一V型鐵、第二V型鐵和兩個螺栓，半球動壓馬達的轉子外圓與第一V型鐵的V型表面以及第二V型鐵的V型表面相切；第一V型鐵和第二V型鐵通過兩個螺栓進行固定；

電感測微儀放置在平板上；定滑輪支架固定在平板上，定滑輪支架用于支撐定滑輪、滑輪線繩與砝碼；電感測微儀測頭支架固定在平板上，電感測微儀測頭支架用于支撐電感測微儀測頭與測頭連接線；測頭連接線的一端與電感測微儀連接，中間部分通過電感測微儀測頭支架固定，另一端與電感測微儀測頭的非敏感端連接；電感測微儀測頭的敏感端與動壓馬達的待測端接觸。

2.根據權利要求1所述的半球型動壓馬達軸承間隙測量裝置，其特征在于：平板采用大理石平板，其表面光潔度小于Ra0.002mm，平面度小于0.005mm。

3.一種利用權利要求1或2所述的半球型動壓馬達軸承間隙測量裝置進行測量的方法，其特征在于步驟為：

(1)在半球型動壓馬達軸的待測端裝入壓緊套，使半球型動壓馬達轉子外圓與第一V型鐵V型面和第二V型鐵V型面相切，使用螺栓將第一V型鐵和第二V型鐵固定，使得半球型動壓馬達轉子外圓緊固在軸向間隙測量工裝上，保持馬達軸的待測端豎直向上；

(2)將電感測微儀打開，將電感測微儀測頭置于待測端壓緊套端面中心點，壓緊套與滑輪線繩、滑輪以及砝碼依序連接，使得馬達軸與滑輪線繩、滑輪以及砝碼依序連接；

(3)用砝碼施力吊起馬達軸，電感測微儀讀出測量值，記為L1；松開砝碼時，電感測微儀讀數L2，兩次測量值之差L1-L2即為第一次測量的馬達軸向間隙值；

(4)擰松螺栓，變換半球型動壓馬達轉子外圓位置，使用軸向間隙測量工裝重新固定半球型動壓馬達轉子外圓，用砝碼施力吊起馬達軸，電感測微儀讀出測量值，記為L1′；松開砝碼時電感測微儀讀數L2′，L1′-L2′為重新測量的被測端的軸向間隙，重新測量馬達軸向間隙值，重復測量，取軸向間隙的平均值，即為半球型動壓馬達軸承被測端的軸向間隙。

4.半球型動壓馬達軸承間隙測量裝置，其特征在于：包括電感測微儀、平板、徑向間隙測量工裝、測頭連接線、滑輪線繩、定滑輪、定滑輪支架、電感測微儀測頭支架和砝碼；電感測微儀上帶有電感測微儀測頭；

徑向間隙測量工裝包括位于其底端的底板和位于底板上方的支撐板以及壓板，支撐板位于底板的兩端，兩個支撐板的頂端均帶有V型槽，兩個支撐板的頂端的V型槽相同；底板和兩個支撐板為一體成型；

電感測微儀放置在大理石平板上；

定滑輪支架固定在大理石平板上，用于支撐定滑輪、滑輪線繩與砝碼；

電感測微儀測頭支架固定在大理石平板上，用于支撐電感測微儀測頭與測頭連接線；

測頭連接線的一端與電感測微儀連接，中間部分通過電感測微儀測頭支架固定，另一端與電感測微儀測頭的非敏感端連接；電感測微儀測頭的敏感端與動壓馬達的待測端接觸。

5.根據權利要求4所述的半球型動壓馬達軸承間隙測量裝置，其特征在于：平板采用大理石平板，其表面光潔度小于Ra0.002mm，平面度小于0.005mm。

6.一種利用權利要求4或5所述的半球型動壓馬達軸承間隙測量裝置進行測量的方法，其特征在于步驟為：

(1)在半球型動壓馬達軸兩端裝入壓緊套，將半球動壓馬達水平放置于徑向間隙測量工裝的兩個V型槽中，使用螺栓將壓板和支撐板頂端V型槽兩端部分固定連接，使得半球動壓馬達的軸兩端壓緊固定在V型槽中，滑輪線繩的一端與半球型動壓馬達的轉子外圓待測端連接，另一端與砝碼連接；

(2)將電感測微儀測頭置于待測端徑向面最高點位置，徑向面下部與滑輪線繩、滑輪、砝碼連接，通過滑輪線繩懸掛砝碼；

(3)用砝碼施力吊起待測端，電感測微儀讀出測量值，記為K1；松開砝碼時，電感測微儀讀出數值，記為K2；則K1與K2的差值為第一次測量的待測端的徑向間隙；

(4)擰松螺釘，將半球動壓馬達的軸變換位置，緊固螺釘，使用V型槽將半球動壓馬達的軸兩端壓緊，重新進行固定；用砝碼施力吊起被測試端，電感測微儀讀出測量值，記為K1′；松開砝碼時，電感測微儀讀出數值，記為K2′；K1′-K2′為重新測量的被測端的徑向間隙，重復測量，取徑向間隙的平均值，得到待測端的徑向間隙。