[發明專利]用于測量磁場輻射的方法及磁場探頭

在審

• 申請號: 201510580116.1
• 申請日: 2015-09-11
• 公開（公告）號: CN105242222A
• 公開（公告）日: 2016-01-13
• 發明（設計）人: 丁燕;魏偉;鄒學文
• 申請（專利權）人: 合肥聯寶信息技術有限公司
• 主分類號: G01R33/07
• 分類號: G01R33/07
• 代理公司: 北京金信知識產權代理有限公司 11225
• 代理人: 黃威;喻嶸

技術領域

本發明涉及近場測量領域，尤其涉及一種用于測量磁場輻射的方法及磁場探頭。

背景技術

電磁干擾大小一般利用天線進行遠場測量，但是遠場的測試結果只能測出產品的電磁干擾大小是否超過限值，并不能測出電磁輻射是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB、LAN之類的通信接口，在這種情況下，可以通過近場測量的方法來確定電磁輻射的真正來源。

通常，芯片、器件的管腳、PCB上的布線、電源線及信號線纜等都會產生磁場輻射，磁場探頭能提供一個與該磁場輻射的強度成正比的信號，通過磁場探頭量測并結合頻譜分析儀就可以測量磁場輻射的大小，從而知道產品具體哪個位置有磁場輻射問題。

常用的磁場探頭多為單環狀，當磁場傳播線和探頭環面垂直的時候，測量數值最大，因此，在測量過程中，工程師一般需要旋轉探頭的方向來測量到最大的磁場數值，同時避免遺漏重要的發射源。由于僅有一個環形探頭，需要在同一位置旋轉才能測到最大的磁場輻射位置，這就嚴重影響了測試效率。

針對現有技術中所存在的上述問題，提供一種新的用于測量磁場輻射的方法及磁場探頭具有重要的意義。

發明內容

為解決上述問題，本發明提供一種用于測量磁場輻射的方法及磁場探頭，其能夠提高確定磁場輻射來源的效率。

為實現上述目的，本發明的用于測量磁場輻射的方法，包括：將三個線圈固定設置為該三個線圈各自所在的平面兩兩互相垂直，所述線圈包括外屏蔽層和內芯；將三個線圈的所述內芯的兩端并聯至頻譜分析儀的接口，以將三個線圈中的至少一個線圈從磁場輻射中感測到的電流傳送至頻譜分析儀；頻譜分析儀根據從所述接口接收到的感測電流確定線圈所在位置處的磁場強度的大小。

優選地，頻譜分析儀通過將從所述接口接收到的感測電流轉換為電壓來確定所述磁場強度的大小。

優選地，所述線圈呈圓環狀或者矩形環狀。

優選地，所述外屏蔽層為銅屏蔽層。

本發明還公開了一種用于測量磁場輻射的磁場探頭，其包括三個設置為其各自所在的平面兩兩互相垂直的線圈和用于固定支撐三個所述線圈的把柄，所述線圈包括外屏蔽層和內芯，所述內芯的兩端從所述把柄的一端穿過所述把柄并連接到形成在所述把柄的另一端外部的的接頭，或者所述內芯的兩端從把柄的一端穿過所述把柄后在所述把柄的另一端外部形成所述接頭，所述接頭用于與頻譜分析儀的接口相連。

優選地，所述把柄包括與所述外屏蔽層連接的把柄屏蔽層。

優選地，所述線圈呈圓環狀或者矩形環狀。

優選地，所述外屏蔽層和所述把柄屏蔽層均為銅屏蔽層。

本發明的用于測量磁場輻射的方法及磁場探頭，通過設置三個互相垂直的線圈對產品各個部位處的磁場輻射進行測量，不用旋轉該探頭即可快速測量產品各部位處的磁場強度大小，從而確定磁場輻射的來源。該磁場探頭結構簡單，使用方便。

附圖說明

圖1為本發明的用于確定磁場輻射來源的方法中的線圈布置示意圖；

圖2為本發明中頻譜分析儀的示意圖；

圖3為本發明的用于測量磁場輻射的磁場探頭的結構示意圖。

具體實施方式

下面，結合附圖，對本發明的結構以及工作原理等作進一步的說明。

參見圖1、圖2，本發明的用于測量磁場輻射的方法，包括：將三個線圈1固定設置為三個線圈各自所在的平面兩兩互相垂直，如圖1所示，三個線圈1分別固定設置于三維坐標系的x、y、z軸兩兩限定的三個平面內，線圈1包括外屏蔽層101和內芯102。

當需要測量產品的磁場輻射的來源時，將三個線圈的內芯102的兩端并聯至頻譜分析儀3的接口。如圖2所示，頻譜分析儀3的信號輸入接口一端為接地端301，另一端為信號接入端302。分別將三個內芯102的一端連接接地端301，另一端連接信號接入端302即可進行測量。將固定設置的三個線圈靠近的產品的各個待測部位，根據線圈所在位置處的磁場輻射，基于霍爾效應，每個線圈感測到相應電流并傳送至頻譜分析儀的信號接入端302。由于三個線圈并聯連接到頻譜分析儀的接口，因此每個線圈感測到的電流在信號接入端302處并聯得到與產品所測部位處的磁場輻射對應的總感測電流，隨后頻譜分析儀根據從接口接收到的總感測電流確定產品所測部位處的磁場輻射強度的大小并呈現在頻譜分析儀的屏幕上以供使用者查看。通過分析產品各個部位處的磁場輻射強度的大小分布情況，即可確定產品具體哪個部位存在磁場輻射問題。