[發明專利]一種局部區域軟X射線輻射流定量測量裝置與測量方法

有效

• 申請號: 201510574047.3
• 申請日: 2015-09-11
• 公開（公告）號: CN105204059B
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發明（設計）人: 侯立飛;劉慎業;杜華冰;李志超;楊國洪;韋敏習;任寬;楊家敏;江少恩;楊冬;楊軼濛
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29;G01T1/36
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心51210
• 代理人: 翟長明,韓志英

1.一種局部區域軟X射線輻射流定量測量裝置，其特征在于，包括針孔、X射線成像板、平響應X射線探測器、示波器，所述針孔位于最前端，所述X射線成像板位于針孔與平響應X射線探測器之間，所述X射線成像板上有孔，孔的面積不大于平響應X射線探測器陰極，所述平響應X射線探測器陰極對準X射線成像板上的孔，所述示波器通過電纜與平響應X射線探測器連接。

2.根據權利要求1所述的局部區域軟X射線輻射流定量測量裝置，其特征在于，所述針孔中心、X射線成像板孔中心、平響應X射線探測器中心位于一條直線上。

3.局部區域軟X射線輻射流定量測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

1）放置并調節局部區域軟X射線輻射流定量測量裝置，使靶點、針孔、成像板孔、平響應X射線探測器中心位于一條直線上；

2）靶點發射的X射線經過針孔成像在X射線成像板上；

3）根據X射線成像板成像與成像板孔的位置關系，孔所對應的區域就是平響應X射線探測器的測量區域；

4）平響應X射線探測器信號通過電纜傳輸至示波器，獲得電壓信號V(T)；

5）根據公式，其中：為輻射流，為信號衰減倍數，為示波器阻抗，為平響應X射線探測器響應函數，為X射線成像板的孔對應的立體角，計算得到區域輻射流隨時間變化結果；

6）移動X射線成像板，使成像板孔的孔選定X射線成像的不同位置，重復步驟2）、3）、4）、5）測量不同區域的X射線輻射流。