[發(fā)明專利]通過(guò)對(duì)不同阻抗點(diǎn)的測(cè)量進(jìn)行材料辨別感測(cè)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510569823.0 | 申請(qǐng)日: | 2015-09-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105403599B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-05-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 艾倫·H·里克;達(dá)米安·M·斯穆萊維茲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 德州儀器公司 |
| 主分類號(hào): | G01N27/22 | 分類號(hào): | G01N27/22 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 林斯凱 |
| 地址: | 美國(guó)德*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通過(guò) 不同 阻抗 測(cè)量 進(jìn)行 材料 辨別 | ||
1.一種材料辨別接近感測(cè)裝置,其包括:
天線,其經(jīng)布置以輻射射頻信號(hào);
電容式傳感器,其經(jīng)布置以檢測(cè)所述電容式傳感器的電容改變且經(jīng)布置以接收所述射頻信號(hào);
電量傳感器,其經(jīng)布置以檢測(cè)所接收的所述射頻信號(hào)的改變;
第一濾波器,其設(shè)置于所述電容式傳感器與所述電量傳感器之間以對(duì)所接收的所述射頻信號(hào)進(jìn)行濾波;及
兩個(gè)或多個(gè)帶通濾波器;
其中所述電量傳感器經(jīng)布置以檢測(cè)所述兩個(gè)或多個(gè)帶通濾波器中的每一者的輸出處的射頻信號(hào)的改變,并且所述兩個(gè)或多個(gè)帶通濾波器中的每一者的所述輸出處與所述電量傳感器之間設(shè)置有第二濾波器,并且所述第二濾波器對(duì)所述兩個(gè)或多個(gè)帶通濾波器中的每一者的所述輸出處的所述射頻信號(hào)進(jìn)行濾波。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其進(jìn)一步包括經(jīng)布置以平衡所述天線與所述兩個(gè)或多個(gè)帶通濾波器的發(fā)射特性的經(jīng)匹配網(wǎng)絡(luò)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中所述電量傳感器包括模/數(shù)轉(zhuǎn)換器,所述模/數(shù)轉(zhuǎn)換器經(jīng)布置以量化所接收的所述射頻信號(hào)的所檢測(cè)的改變以及所述兩個(gè)或多個(gè)帶通濾波器中的每一者的所述輸出處的所述射頻信號(hào)的所檢測(cè)的改變。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中所述電量傳感器包括模/數(shù)轉(zhuǎn)換器,所述模/數(shù)轉(zhuǎn)換器經(jīng)布置以使用小于或等于所發(fā)射的所述射頻信號(hào)的載波的頻率的至少兩倍的取樣率來(lái)量化所接收的所述射頻信號(hào)的所檢測(cè)的改變以及所述兩個(gè)或多個(gè)帶通濾波器中的每一者的所述輸出處的所述射頻信號(hào)的所檢測(cè)的改變。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其中所述模/數(shù)轉(zhuǎn)換器經(jīng)布置以量化所述電容式傳感器的所述電容的所檢測(cè)的改變。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置,其中所述模/數(shù)轉(zhuǎn)換器經(jīng)布置以輸出所接收的所述射頻信號(hào)、所述兩個(gè)或多個(gè)帶通濾波器中的每一者的所述輸出處的所述射頻信號(hào)及所述電容式傳感器的所述電容的時(shí)分多路復(fù)用讀數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中所述電容式傳感器為布置有表面的導(dǎo)電材料。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其中所述電容式傳感器的所述表面是平面的。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其中所述天線布置為線圈,所述線圈在激勵(lì)時(shí)具有延伸穿過(guò)所述電容式傳感器的所述表面的一部分的電芯。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其中所述天線在被視為使用不平行于所述電容式傳感器的所述表面的一部分的投影軸的二維投影時(shí)布置為在襯底上環(huán)繞所述電容式傳感器的內(nèi)部分的一系列導(dǎo)電跡線。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其中所述天線布置為在激勵(lì)時(shí)產(chǎn)生具有上部波瓣及下部波瓣的電與磁場(chǎng)的線圈,所述上部波瓣及下部波瓣界定延伸穿過(guò)所述電容式傳感器的所述表面的一部分的軸。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于德州儀器公司,未經(jīng)德州儀器公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510569823.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:三相三柱非晶合金干式變壓器鐵心
- 下一篇:一種潤(rùn)滑供油裝置
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備





