[發(fā)明專利]具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510565633.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-09-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105140392B | 公開(公告)日: | 2017-11-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪琳;張淑瑋;吳白羽;周家偉;任兵;黃健;王林軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L45/00 | 分類號(hào): | H01L45/00;H01L27/24;G11C11/56 |
| 代理公司: | 上海上大專利事務(wù)所(普通合伙)31205 | 代理人: | 顧勇華 |
| 地址: | 200444*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 反常 特性 基材 料阻變 存儲(chǔ) 單元 及其 制備 方法 | ||
1.一種具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元,其特征在于:自下而上依次主要由襯底層(1)、下電極層(2)、阻變層(3)和上電極層(4)結(jié)合而成,所述阻變層(3)為在非晶碳膜中摻雜有Fe的a-C/Fe薄膜阻變層,其中所述Fe的摻雜量為4.0at%。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元,其特征在于:所述下電極層(2)形成長條直板形結(jié)構(gòu),另外通過圖案化方法使所述上電極層(4)形成平行柵條形的電極圖案結(jié)構(gòu),并使所述上電極層(4)和所述下電極層(2)在所述阻變層(3)上的投影呈十字交叉陣列關(guān)系。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元,其特征在于:所述阻變層(3)的厚度為50~150nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任意一項(xiàng)所述具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元,其特征在于:所述下電極層(2)為Ti電極層和Au電極層互相結(jié)合的復(fù)合電極層,其中Ti電極層和Au電極層的厚度分別為5~15 nm和100~200 nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任意一項(xiàng)所述具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元,其特征在于:所述上電極層(4)為Al電極層和Pt電極層互相結(jié)合的復(fù)合電極層,其中Al電極層和Pt電極層的厚度分別為150~250nm和5~15 nm。
6.一種制備權(quán)利要求1所述具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元的方法,其特征在于,它包括以下步驟:
S1:襯底層預(yù)處理;
S2:在襯底層之上生長下電極層;
S3:在下電極層之上繼續(xù)生長阻變層,包括以下步驟:
S3.1:采用Fe、C組成的復(fù)合靶材,在下電極層之上繼續(xù)貼上薄膜掩膜版;
S3.2:將薄膜掩膜版放入磁控濺射的腔體中;
S3.3:開啟機(jī)械泵、預(yù)抽閥,將腔體內(nèi)的氣壓抽到8Pa以下;
S3.4:關(guān)閉預(yù)抽閥,開啟前級(jí)閥,延時(shí)30s,長按電動(dòng)插板閥至PV為100%;
S3.5:啟動(dòng)分子泵,將腔體內(nèi)氣壓抽至10-3Pa以下,關(guān)閉真空計(jì);
S3.6:開啟真空計(jì),將腔體內(nèi)氣壓抽至10-3Pa以下,開啟充氣閥,向腔體中通氬氣;
S3.7:調(diào)節(jié)濺射氣壓為0.4Pa,濺射功率100W;
S3.8:開始生長a-C/Fe薄膜,形成a-C/Fe薄膜阻變層;
S4:在阻變層之上繼續(xù)生長上電極層,得到碳基材料阻變存儲(chǔ)單元樣件;
S5:將完成上電極層生長的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元樣件與測試系統(tǒng)進(jìn)行裝配和并進(jìn)行測試,通過測試達(dá)到技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的碳基材料阻變存儲(chǔ)器樣件即為達(dá)標(biāo)阻變存儲(chǔ)器單元成品。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述制備具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元的方法,其特征在于,所述步驟S1包括以下步驟:
S1.1:采用普通鈉鈣玻璃作為襯底層;
S1.2:分別利用去離子水、丙酮和乙醇將所述襯底層超聲清洗15分鐘,洗去襯底層的表面的雜質(zhì)與有機(jī)物;
S1.3:利用氬氣將所述襯底層吹干。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述制備具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元的方法,其特征在于,所述步驟S2包括以下步驟:
S2.1:在襯底層上覆蓋下電極掩膜版;
S2.2:將下電極掩膜版放入雙離子束鍍膜腔體中,采用雙離子束鍍膜法依次在下電極掩膜版上生長Ti電極層及Au電極層,形成層狀復(fù)合材料的下電極層。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述制備具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元的方法,其特征在于,所述步驟S4包括以下步驟:
S4.1:在長好a-C/Fe薄膜阻變層后,在所述阻變層上覆蓋上電極掩膜版;
S4.2:將上電極掩膜版放入雙離子束鍍膜腔體中,采用雙離子束鍍膜法分別生長Pt電極層以及Al電極層,形成層狀復(fù)合材料的上電極層。
10. 根據(jù)權(quán)利要求6~9中任意一項(xiàng)所述制備具有反常阻變特性的碳基材料阻變存儲(chǔ)單元的方法,其特征在于:在所述步驟S5中,將上電極層接地,將下電極層接掃描電壓,限流1 μA進(jìn)行測試。
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