[發明專利]一種開關柜局部放電檢測系統

在審

• 申請號: 201510560235.0
• 申請日: 2015-09-02
• 公開（公告）號: CN105116304A
• 公開（公告）日: 2015-12-02
• 發明（設計）人: 李鑫;陳曉科;徐曉剛;張曉星;汪進鋒;黃楊玨;曾杰;楊汾艷;程政;李新
• 申請（專利權）人: 廣東電網有限責任公司電力科學研究院;武漢大學
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 廣州知友專利商標代理有限公司 44104
• 代理人: 周克佑

1.一種開關柜局部放電檢測系統，其特征是：包括通過同軸電纜連接的手持式檢測設備和內置于開關柜內的特高頻傳感器兩個子系統；

所述的內置于開關柜內的特高頻傳感器包括天線輻射層、電介質層、饋電探針和BNC電纜接頭，所述電介質層的一個表面直接貼附在所述開關柜內壁上以開關柜的柜殼作為特高頻傳感器的信號參考地，所述的天線輻射層鋪設在電介質層的另一表面上，所述的饋電探針垂直并內置于電介質層內，其內端與天線輻射層連接、另一端與從外向內穿過所述開關柜壁通孔的BNC電纜接頭內芯相連接，BNC電纜接頭的外殼與開關柜電連接；所述的手持式檢測設備帶有BNC電纜接頭，同軸電纜連接特高頻傳感器的BNC電纜接頭與手持式檢測設備的BNC電纜接頭，從而實現兩個子系統的連接；

所述的手持式檢測設備包括一DSP芯片，所述的DSP芯片經第一I/O接口與一數據采集模塊相連接，所述的數據采集模塊與一信號處理模塊連接，所述的信號處理模塊與BNC電纜接頭連接并接收從同軸電纜傳來的信號；

所述的DSP芯片經第二I/O接口與一工頻信號獲取模塊相連接。

2.根據權利要求1所述的開關柜局部放電檢測系統，其特征是：所述的電介質層為相對介電常數為2.5～6.0的環氧樹脂。

3.根據權利要求2所述的開關柜局部放電檢測系統，其特征是：所述天線輻射層為厚度為10μm～120μm的銅或鋁，天線輻射層的形狀為Koch雪花，在天線輻射層上設置有一孔徑為0.5mm～1.5mm的饋電點，所述饋電探針的內端與饋電點焊接。

4.根據權利要求3所述的開關柜局部放電檢測系統，其特征是：所述天線輻射層的外表面鍍有厚度為2μm～10μm的錫層以便焊接饋電探針。

5.根據權利要求4所述的開關柜局部放電檢測系統，其特征是：所述的饋電探針為長度為1.5mm～10mm、直徑與饋電點的孔徑相同的銅質或鋁質探針。

6.根據權利要求5所述的開關柜局部放電檢測系統，其特征是：所述的電介質層貼附在開關柜內壁的具體方式為：所述電介質層的四個角設置有四個通孔、對應的開關柜位置上分別設置有四個螺孔，然后用螺栓將電介質層固定在開關柜上或者利用粘膠將所述電介質層粘在開關柜內壁上。

7.根據權利要求1所述的開關柜局部放電檢測系統，其特征是：所述的工頻信號獲取模塊由光電傳感器、A/D采集器依次連接而成，所述的A/D采集器經第二I/O接口與DSP芯片相連接。

8.根據權利要求7所述的開關柜局部放電檢測系統，其特征是：所述的DSP芯片經第三I/O接口與一信息顯示模塊相連接，所述的信息顯示模塊為LCD顯示屏。

9.根據權利要求8所述的開關柜局部放電檢測系統，其特征是：所述的DSP芯片經第四I/O接口與一數據儲存模塊相連接，所述的數據儲存模塊為flash閃存。

10.根據權利要求9所述的開關柜局部放電檢測系統，其特征是：所述的DSP芯片經第五I/O接口與一按鍵控制模塊相連接，所述的按鍵控制模塊設有電源按鍵、初始化按鍵、設備信息錄入按鍵、單次放點波形按鍵、工頻周期波形按鍵、輸入鍵盤、holdon按鍵以及存儲按鍵；所述的DSP芯片經第六I/O接口與一接口擴展模塊相連接，所述的接口擴展模塊為USB2.0接口。