[發明專利]半導體裝置和半導體系統

有效

• 申請號: 201510543302.8
• 申請日: 2015-08-28
• 公開（公告）號: CN105404410B
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發明（設計）人: 樸埈徹;金范洙;魚賢圭;姜尚協;金瑳童;卞山鎬;李進喆;崔倫競
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 王兆賡

一種半導體裝置和半導體系統，其可通過三級相關雙采樣(CDS)來增強針對噪聲的抗干擾性。半導體裝置包括：放大器，通過外部輸入來接收從面板提供的噪聲和驅動信號，針對驅動信號的預定時間段進行重置且通過重置對噪聲進行第一采樣來生成第一采樣噪聲，第一采樣噪聲包括連續的重置時間點的噪聲之間噪聲差；采樣器，對第一噪聲交替地執行第二采樣和第三采樣來生成第二采樣噪聲和第三采樣噪聲且對第二采樣噪聲和第三采樣噪聲執行第四采樣來生成第四采樣噪聲。這里，第一采用噪聲包括第一噪聲差至第三噪聲差，第二采樣噪聲為第一噪聲差與第二噪聲差之差，第三噪聲為第二噪聲差與第三噪聲差之差，第四采樣噪聲為第二采樣噪聲與第三采樣噪聲之差。

本申請要求于2014年9月4日提交到USPTO的第62/045,830號美國臨時申請以及于2014年11月14日提交到韓國知識產權局的第10-2014-015865號韓國專利申請的優先權及所有權益，其內容通過引用完整地包含于此。

技術領域

本發明涉及一種半導體裝置和半導體系統。

背景技術

在電容式觸摸控制器中，讀出電路為感測由人手或導體改變的連接到該電路的面板(例如，觸摸面板)的電容的重要塊。讀出電路可受到外部環境的噪聲的影響。因此，針對噪聲的增強的抗干擾度(immunity)為感測電容的變化的重要因素。

發明內容

本發明提供了一種可通過三級相關雙采樣(CDS)來增強針對噪聲的抗干擾性的半導體裝置。

本發明還提供了一種可通過三級相關雙采樣(CDS)來增強針對噪聲的抗干擾性的半導體系統。

本發明的這些和其他目的將在優選實施例的以下描述中進行描述或者通過優選實施例的以下描述變得明顯。

根據本發明的方面，提供了一種半導體裝置，包括：放大器，通過外部輸入來接收從面板提供的噪聲和驅動信號，針對驅動信號的預定時間段進行重置且通過重置對噪聲進行第一采樣，第一采樣噪聲包括兩個連續的重置時間點的噪聲之間的噪聲差；采樣器，選擇性地對第一噪聲交替地執行第二采樣和第三采樣且對第二采樣噪聲和第三采樣噪聲執行第四采樣，其中，第一采用噪聲包括第一噪聲差至第三噪聲差，第二采樣噪聲為第一噪聲差與第二噪聲差之差，第三噪聲為第二噪聲差與第三噪聲差之差，第四噪聲為第二采樣噪聲與第三采樣噪聲之差。

放大器包括：第一運算放大器；第一電阻器，在第一運算放大器的輸入端和輸出端之間連接；第一電容器，與第一電阻器并聯連接；第一重置開關，與第一電容器并聯連接。

通過第一電阻器和第一電容器對通過外部輸入提供的噪聲進行高通濾波。

驅動信號的預定時間段為驅動信號的半個周期。

半導體裝置還包括從面板接收驅動信號且消除驅動信號的偏移的偏移消除器。

放大器從偏移消除器接收的外部輸入、通過外部輸入提供的噪聲和偏移消除的驅動信號。

采樣器包括：執行第二采樣的第一子采樣器、執行第三采樣的第二子采樣器和執行第四采樣的第三子采樣器。

第一子采樣器包括：連接到放大器的第二電容器、連接到第二電容器并接收共模電壓的第一開關、在第二電容器和第三子采樣器之間連接的第二開關、第二開關和第三子采樣器之間連接的第一積分器以及與第一積分器并聯連接的第二重置開關。

第二子采樣器包括：連接到放大器的第三電容器、連接到第三電容器并接收共模電壓的第三開關、在第三電容器和第三子采樣器之間連接的第四開關、在第四開關和第三子采樣器之間連接的第二積分器以及與第二積分器并聯連接的第三重置開關。

第三子采樣器接收第一積分器和第二積分器的輸出并執行減法運算。

第一開關和第四開關可同時閉合或斷開。

第二開關和第三開關可同時閉合或斷開。