[發明專利]由單粒子翻轉率預計單粒子故障率的方法及系統有效
| 申請號： | 201510536364.6 | 申請日： | 2015-08-27 |
| 公開（公告）號： | CN105718622B | 公開（公告）日： | 2018-11-09 |
| 發明（設計）人： | 王群勇;陳冬梅;陳宇 | 申請（專利權）人： | 北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 粒子 翻轉 預計 故障率 方法 系統 | ||
1.一種由單粒子翻轉率預計單粒子故障率的方法，其特征在于，包括：
S1、確定電子器件中每一功能模塊的單粒子翻轉率、時間降額因子及邏輯降額因子的大小，
其中，所述時間降額因子為在一個時鐘周期內功能模塊的單粒子翻轉變化能夠被記錄的時長的比例，所述邏輯降額因子為所述功能模塊內被記錄的單粒子翻轉變化導致該功能模塊發生單粒子故障的概率，所述單粒子翻轉變化指的是由單粒子翻轉效應引起的狀態的變化或跳變；
S2、根據相應功能模塊的所述單粒子翻轉率、所述時間降額因子及所述邏輯降額因子的大小，計算所述相應功能模塊的單粒子故障率；
S3、將所述電子器件中所有功能模塊的單粒子故障率之和作為所述電子器件的單粒子故障率。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
所述步驟S2采用以下公式計算電子器件中第i個功能模塊的單粒子故障率λSEE-i：
λSEE-i＝RSEE-i×TD-i×LD-i
其中，RSEE-i為第i個功能模塊的單粒子翻轉率，TD-i為第i個功能模塊的時間降額因子，LD-i為第i個功能模塊的邏輯降額因子。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述功能模塊為狀態存儲模塊或非狀態存儲模塊。
4.一種由單粒子翻轉率預計單粒子故障率的系統，其特征在于，包括：
確定模塊，用于確定電子器件中每一功能模塊的單粒子翻轉率、時間降額因子及邏輯降額因子的大小，
其中，所述時間降額因子為在一個時鐘周期內功能模塊的單粒子翻轉變化能夠被記錄的時長的比例，所述邏輯降額因子為所述功能模塊內被記錄的單粒子翻轉變化導致該功能模塊發生單粒子故障的概率，所述單粒子翻轉變化指的是由單粒子翻轉效應引起的狀態的變化或跳變；
第一計算模塊，用于根據相應功能模塊的所述單粒子翻轉率、所述時間降額因子及所述邏輯降額因子的大小，計算所述相應功能模塊的單粒子故障率；
第二計算模塊，用于將所述電子器件中所有功能模塊的單粒子故障率之和作為所述電子器件的單粒子故障率。
5.根據權利要求4所述的系統，其特征在于，
所述第一計算模塊采用以下公式計算電子器件中第i個功能模塊的單粒子故障率λSEE-i：
λSEE-i＝RSEE-i×TD-i×LD-i
其中，RSEE-i為第i個功能模塊的單粒子翻轉率，TD-i為第i個功能模塊的時間降額因子，LD-i為第i個功能模塊的邏輯降額因子。
6.根據權利要求4所述的系統，其特征在于，所述功能模塊為狀態存儲模塊或非狀態存儲模塊。
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