[發(fā)明專利]克爾效應(yīng)測量實驗中入射光的調(diào)整裝置及其調(diào)整方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510535465.1 | 申請日: | 2015-08-26 |
| 公開(公告)號: | CN105137206A | 公開(公告)日: | 2015-12-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙林杰;齊波;趙曉林;孫夏青;雷園園;田坤;張杰;高春嘉;程建偉;朱宗旺;李銳海;李成榕 | 申請(專利權(quán))人: | 中國南方電網(wǎng)有限責(zé)任公司電網(wǎng)技術(shù)研究中心;華北電力大學(xué) |
| 主分類號: | G01R29/12 | 分類號: | G01R29/12 |
| 代理公司: | 廣州華進聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 劉靜 |
| 地址: | 510000 廣東省廣州市越秀區(qū)*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 克爾 效應(yīng) 測量 實驗 入射 調(diào)整 裝置 及其 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光學(xué)測量技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種克爾效應(yīng)測量實驗中入射光的調(diào)整裝置及其調(diào)整方法。
背景技術(shù)
克爾效應(yīng)測量高壓電場,較之于其他高壓電場測量方法,是一種有效的高壓電場測量方法,電光場圖測量法具有直觀、安全、可靠的優(yōu)點,又易于進行計算機信息處理。特別是采用光信號作為測量的媒介,排除了與高電壓的直接聯(lián)系,不僅安全而且易于進行自動控制和信號處理,應(yīng)用于高壓作用下的電場測量具有很大優(yōu)勢。但是傳統(tǒng)的試驗方法只能保證光線的順利通過,不能進行入射角度的調(diào)整,無法保證每次實驗入射光的入射角度一致,無法保證實驗數(shù)據(jù)的真實性,容易產(chǎn)生實驗偏差,最終導(dǎo)致高壓電場測量數(shù)據(jù)失真。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要提供一種克爾效應(yīng)測量實驗中入射光的調(diào)整裝置及其調(diào)整方法,使入射光與固定介質(zhì)垂直,保證每次實驗入射光的入射角度一致,保證實驗數(shù)據(jù)的真實性,減少實驗偏差。
其技術(shù)方案如下:
一種克爾效應(yīng)測量實驗中入射光的調(diào)整裝置,包括:箱體,所述箱體設(shè)有相對設(shè)置的第一安裝通孔及第二安裝通孔;第一透光件,所述第一透光件覆蓋所述第一安裝通孔,并密封固定于所述箱體中;第二透光件,所述第二透光件覆蓋所述第二安裝通孔,并密封固定于所述箱體中;及壓緊裝置,所述壓緊裝置與所述第二透光件相配合,密封所述第二安裝通孔,所述壓緊裝置能夠調(diào)節(jié)所述第二透光件的固定位置。
在其中一個實施例中,所述壓緊裝置用于調(diào)節(jié)所述第二透光件與所述第一透光件的平行度或間距。
在其中一個實施例中,所述壓緊裝置包括多個用于壓緊所述第二透光件的旋緊件、設(shè)置于所述第二透光件邊緣的密封圈;多個所述旋緊件沿所述第二透光件的邊緣形狀間隔設(shè)置于所述第二安裝通孔及所述箱體之間;所述密封圈緊貼所述第二透光件,并密封固定于所述箱體中。
在其中一個實施例中,所述旋緊件設(shè)有壓緊所述第二透光件的壓緊部及螺紋桿,所述箱體設(shè)有多個與所述螺紋桿一一對應(yīng)第一螺紋孔。
在其中一個實施例中,所述壓緊裝置還包括卡盤,所述卡盤設(shè)有卡固所述第二透光件的卡槽通孔,所述卡盤還設(shè)有與多個所述旋緊件一一對應(yīng)的通孔,所述箱體設(shè)有與多個所述旋緊件一一對應(yīng)的第二螺紋孔,所述卡盤通過與多個所述旋緊件配合將所述第二透光件固定在所述箱體上。
在其中一個實施例中,所述旋緊件為12個,12個所述旋緊件沿所述第二安裝通孔的中心周向的0°、30°、45°、90°、135°、150°、180°、210°、225°、270°、315°、330°分布。
在其中一個實施例中,多個所述旋緊件沿所述第二安裝通孔的中心的周向均勻設(shè)置。
在其中一個實施例中,所述密封圈的厚度為1-10mm,所述密封圈的壓縮調(diào)節(jié)量為其厚度的1/3。
一種克爾效應(yīng)測量實驗中入射光的調(diào)整方法,包括權(quán)利要求1-6任一項所述克爾效應(yīng)測量實驗中入射光的調(diào)整裝置;所述克爾效應(yīng)測量實驗中入射光的調(diào)整方法的步驟如下:
(1)光源發(fā)射器發(fā)射入射光至第一透光件,所述第一透光件接收第一入射光并反射第一前鏡面反射光及第一后鏡面反射光;
(2)檢測所述第一前鏡面反射光與所述第一后鏡面反射光是否重合,如果否,則執(zhí)行步驟(3),如果是,則執(zhí)行步驟(4);
(3)若所述第一前鏡面反射光與所述第一后鏡面反射光不重合,調(diào)節(jié)光源發(fā)射器發(fā)射角度,直至所述第一前鏡面反射光與所述第一后鏡面反射光重合;
(4)若所述第一前鏡面反射光與所述第一后鏡面反射光重合,固定所述光源發(fā)射器的發(fā)射角度,所述入射光發(fā)射至第二透光件,所述第二透光件接收第二入射光并反射第二前鏡面反射光及第二后鏡面反射光;
(5)檢測所述第二前鏡面反射光與所述第二后鏡面反射光是否重合,如果否,則執(zhí)行步驟(6),如果是,則完成此階段入射光角度調(diào)整;
(6)若所述第二前鏡面反射光與所述第二后鏡面反射光不重合,調(diào)節(jié)壓緊裝置改變所述第二透光件與所述第一透光件的平行度,直至所述第二前鏡面反射光與所述第二后鏡面反射光重合。
在其中一個實施例中,在步驟(6)中包括:調(diào)節(jié)一個或多個旋緊件來改變密封圈的厚度,調(diào)節(jié)所述第二透光件與所述第一透光件的平行度,直至所述第二前鏡面反射光與所述第二后鏡面反射光重合。
在其中一個實施例中,在步驟(6)中包括:先調(diào)一個旋緊件,再調(diào)與所述旋緊件相鄰的一個或多個旋緊件來改變密封圈的厚度,調(diào)節(jié)所述第二透光件與所述第一透光件的平行度或間距,直至所述第二前鏡面反射光與所述第二后鏡面反射光重合。
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