[發(fā)明專利]一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510529992.1
• 申請(qǐng)日: 2015-08-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105095035A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-11-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫連震;王佩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡，其特征在于該P(yáng)CIE測(cè)試卡使用一種廉價(jià)的PCIE貼片，所述貼片可做成X4、X8、X16三種PCIE測(cè)試卡，將所述的X4、X8、X16三種卡統(tǒng)一作為生產(chǎn)測(cè)試物品，使PCIE測(cè)試設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于計(jì)算機(jī)主板大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試的PCIE測(cè)試卡，其特征在于所述的PCIE測(cè)試卡由撥碼開(kāi)關(guān)調(diào)節(jié)速度，所述的速度分為三個(gè)檔位，所述的三個(gè)檔位分別為Gen1、Gen2、Gen3。