[發明專利]熒光檢測裝置、被檢物檢測裝置及熒光檢測方法有效
| 申請號: | 201510529714.6 | 申請日: | 2015-08-26 |
| 公開(公告)號: | CN105388132B | 公開(公告)日: | 2019-04-02 |
| 發明(設計)人: | 田川禮人 | 申請(專利權)人: | 希森美康株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京市安倫律師事務所 11339 | 代理人: | 劉良勇;楊永波 |
| 地址: | 日本兵庫縣神戶市*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 熒光 檢測 裝置 被檢物 方法 | ||
1.一種熒光檢測裝置,包括:
光檢測器,用于識別并檢測出數種顏色;
過濾器部分,設于所述光檢測器上,允許一定波長以上的波長域中含有的波長的光透過,切斷小于所述一定波長的波長域中含有的波長的光,所述一定波長包含在所述光檢測器具有靈敏度的波長域中;
照射部件,具有光源,并從所述光源向放在所述過濾器部分上的測定對象熒光物質照射峰值波長在小于所述一定波長的波長域內的激發光;
第一校正部件,對所述光檢測器的輸出信號進行伽馬校正,以彌補在所述激發光照射下所述熒光物質發出的熒光中被所述過濾器部分切斷的光的信號;
其中,所述光檢測器、所述過濾器部分與所述照射部件沿所述光源的光軸排列配置。
2.根據權利要求1所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
還包括圖像處理裝置和顯示部件;
所述圖像處理裝置在所述顯示部件顯示根據所述第一校正部件校正的信號生成的熒光的圖像。
3.根據權利要求1或2所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述光檢測器具有:靈敏度在第一波長范圍的第一光檢測器、靈敏度在小于所述第一波長范圍的第二波長范圍的第二光檢測器、以及靈敏度在小于所述第二波長范圍的第三波長范圍的第三光檢測器;
所述一定波長是所述第三波長范圍。
4.根據權利要求3所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述激發光的波長范圍與所述第三波長范圍重復。
5.根據權利要求1所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
還包括第二校正部件,所述第二校正部件用于減少透過所述過濾器部分、并被所述光檢測器檢測出來的激發光。
6.根據權利要求5所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述第二校正部件對所述光檢測器的輸出信號進行補償處理。
7.根據權利要求1所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述過濾器部分為干涉過濾器,
所述照射部件對所述干涉過濾器照射垂直的平行光。
8.根據權利要求7所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述照射部件包括使所述激發光形成沿所述光源的光軸的平行光的準直光學系統。
9.根據權利要求8所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述照射部件具有發出波長比所述熒光物質的激發波長更長的光的其他光源。
10.根據權利要求8或9所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述干涉過濾器具有使所述熒光物質發出的熒光的透射率為所述照射部件照射的平行光透射率的90倍以上的光透射性。
11.根據權利要求4所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述激發光的峰值波長在300nm以上且小于450nm的范圍內。
12.根據權利要求1所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述一定波長在400nm以上且小于500nm的范圍內。
13.根據權利要求1所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述過濾器部分具有切斷光的特性,使得小于所述一定波長的波長域中所含有的波長的光的透射率不足5%。
14.根據權利要求3所述的熒光檢測裝置,其特征在于:
所述第一光檢測器的靈敏度在620nm以上且小于750nm,
所述第二光檢測器的靈敏度在495nm以上且小于570nm,
所述第三光檢測器的靈敏度在450nm以上且小于495nm。
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