[發明專利]一種簡易的SAS、SATA信號走線阻抗測試方法在審
| 申請號： | 201510525941.1 | 申請日： | 2015-08-25 |
| 公開（公告）號： | CN105137196A | 公開（公告）日： | 2015-12-09 |
| 發明（設計）人： | 朱黎 | 申請（專利權）人： | 浪潮電子信息產業股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/16 | 分類號： | G01R27/16 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 250101 山東*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 簡易 sas sata 信號 阻抗 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種簡易的SAS、SATA信號走線阻抗測試方法，其特征在于，該方法是通過以下步驟實現的：
1）、將線纜Cable接在矢量網絡分析儀或其他TDR設備，然后進行Ecal校正，Ecal校正時去除來自儀器硬件的系統誤差以及線纜段的影響；
2）、接上SAS、SATA的SI測試治具，在阻抗跳變點打上Mark，作為背板或其他SAS、SATARealTrace的阻抗測試起點；
3）、將治具接在待測的DUT上，觀察待測DUT上SAS/SATA實際走線的阻抗情況。
2.根據權利要求1所述的一種簡易的SAS、SATA信號走線阻抗測試方法，其特征在于，將線纜Cable接在矢量網絡分析儀E5071C及SASPlugTestAdapter治具上。
3.根據權利要求1所述的一種簡易的SAS、SATA信號走線阻抗測試方法，其特征在于，Ecal校正時選擇Differential1-port除來自儀器硬件的系統誤差以及線纜段的影響。
4.根據權利要求1所述的一種簡易的SAS、SATA信號走線阻抗測試方法，其特征在于，用Deskew的方式，在Ecal校正后校正其他治具時間偏移量，直接將治具上的走線的偏移量去除，忽略掉治具上走線的阻抗變化。
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